发明名称 电子元件测试装置用的校正板
摘要 [课题]提供校正板,其可以校正装设有接触端子位于壳体中的形式的插座的电子元件测试装置。[解决手段]使IC的球形接脚和插座50的接触端子70电性接触,以执行用以测试该IC的电子元件测试装置之校正时,装设于插座50的校正板80A,其包括:和接触端子70电性接触的校正用端子81;以及由绝缘性材料构成,装设校正用端子81的基板86;校正用端子81具有球状元件85,其与接触端子70的形状对应,从基板86向该接触端子70侧突出。
申请公布号 TW200720662 申请公布日期 2007.06.01
申请号 TW095129168 申请日期 2006.08.09
申请人 阿德潘铁斯特股份有限公司 发明人 高木慎太郎;滨博之;崎山伸;松村茂
分类号 G01R1/04(2006.01) 主分类号 G01R1/04(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本