发明名称 记忆卡成型结构改良(三)
摘要 本创作系有关一种记忆卡成型结构改良(三),包括一电路基板,其上、下表面分别设有一电路层及复数个电性接点,且各设至少一接地部,一记忆体晶片位在电路层上与电路层电性连接,一绝缘层包覆记忆体晶片与电路层,及一导电胶体包覆电路基板上表面与绝缘层而露出位在电路基板下表面的电性接点与接地部,并与露出的此接地部接触,即可实现一种具有防电磁干扰的记忆卡结构。
申请公布号 TWM313295 申请公布日期 2007.06.01
申请号 TW095222824 申请日期 2006.12.26
申请人 晶扬科技股份有限公司 发明人 王金贤
分类号 G11C5/00(2006.01) 主分类号 G11C5/00(2006.01)
代理机构 代理人 林火泉 台北市大安区忠孝东路4段311号12楼之1
主权项 1.一种记忆卡成型结构改良(三),包括: 一电路基板,其上表面设有一电路层,下表面设有 复数个电性接点,且该上、下表面各设至少一接地 部; 一记忆体晶片,其位在该电路层上并与该电路层电 性连接; 一绝缘层,其包覆该记忆体晶片与该电路层;及 一导电胶体,其包覆该电路基板上表面与该绝缘层 而露出位在该电路基板下表面的该等电性接点与 该接地部,并与露出的该接地部接触。 2.如申请专利范围第1项所述之记忆卡成型结构改 良(三),其中该导电性胶体系包括环氧树脂、金属 粉末与二氧化矽。 3.如申请专利范围第1项所述之记忆卡成型结构改 良(三),其中该记忆体晶片与该电路层系利用打线 或覆晶方式形成电性连接。 4.如申请专利范围第1项所述之记忆卡成型结构改 良(三),更包括一控制晶片及复数个电子元件位在 该电路层上与该电路层电性连接,且该控制晶片与 该等电子元件并受该绝缘层所包覆。 5.如申请专利范围第4项所述之记忆卡成型结构改 良(三),其中该等电子元件系选自电阻、电容、电 感或变压器。 6.如申请专利范围第4项所述之记忆卡成型结构改 良(三),其中该控制晶片与该电路层系利用打线或 覆晶方式形成电性连接。 7.如申请专利范围第1项所述之记忆卡成型结构改 良(三),其中该电路基板内设有复数个导电线路,以 供该电路层电性连接至该等电性接点。 8.如申请专利范围第1项所述之记忆卡成型结构改 良(三),该导电胶体系藉由一模具从该电路基板之 至少一侧面提供至少一进胶口进胶完成该导电胶 体,再切割该导电胶体外表面所残留的该进胶口痕 迹。 图式简单说明: 第一图系习知之记忆卡成型结构剖面示意图。 第二图系本创作之外观示意图。 第三图系本创作之结构剖面示意图。 第四A与第四B图系本创作形成绝缘层结构示意图 。 第四C图本创作形成导电胶体结构示意图。 第五图系本创作之一模具示意图。 第六图系本创作之另一模具示意图。
地址 新竹县湖口乡新竹工业区文化路4号