发明名称 用于发送信号之装置与方法
摘要 用以使供将信号由一发送装置之驱动器电路跨越一导体发送至一接收电路之发送强度改变之装置及方法,使得一发送电压位准在相邻的二进制位元值具有相同数值时系以较低强度驱动至一导体,因而避免由于连续以相等强度驱动相等电压位准所造成之非期望高电压位准或非期望低电压位准之累积电容电荷;以及使得发送电压位准于现在发送之电压位准系与前一电压位准不同时以较大强度驱动至一导体,因而较为快速克服可能已经积聚之前一电压位准之电容电荷。
申请公布号 TWI282060 申请公布日期 2007.06.01
申请号 TW094121859 申请日期 2005.06.29
申请人 英特尔公司 发明人 华克 柯林顿;哥帕兰 拉吉夫;罗普 瑞贝卡;杜尔 奈尼特
分类号 G06F13/40(2006.01) 主分类号 G06F13/40(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 1.一种用于发送信号之装置,包含: 至少一个导体, 耦接至该至少一个导体来由该至少一个导体接收 一信号之一接收元件,以及 一发送元件,其具有耦接至该至少一个导体之至少 一个驱动器电路,用来发送由该发送元件所提供之 资料之二进制位元作为一信号,跨该导体发送该信 号至该接收元件,其中若资料之一目前二进制位元 値系与资料之前一个二进制位元値不同,则该至少 一个驱动器电路系以一第一驱动强度发送一第一 电压位准;以及其中若该资料之目前二进制位元値 系与资料之前一个二进制位元値相同,则该至少一 个驱动器电路系以低于该第一驱动强度之较低驱 动强度之一第二驱动强度,发送该第一电压位准。 2.如申请专利范围第1项之装置,其中该至少一个导 体为包含一滙流排之多数导体之一,二进制资料系 由该发送元件跨越该滙流排而被发送至该接收元 件。 3.如申请专利范围第2项之装置,其中该等多数导体 中之各个导体系包含印刷电路板之一传导线迹。 4.如申请专利范围第1项之装置,其中该发送元件系 包含一记忆体控制器,以及其中该接收元件为用以 储存资料之一记忆体元件。 5.如申请专利范围第1项之装置,其中该至少一个驱 动器电路系包含一控制器,该控制器用来监测由该 发送元件所提供之该等资料二进制位元,是否发生 欲藉该至少一个驱动器电路所发送之二连续二进 制位元具有相同数値。 6.如申请专利范围第5项之装置,其中该控制器系包 含一储存元件,用来储存资料之前一个二进制位元 値,来辅助与资料之目前二进制位元値作比较,来 判定是否以该第一驱动强度或该第二驱动强度驱 动该第一电压位准。 7.如申请专利范围第5项之装置,其中该控制器包含 一计时装置,其系响应于二相邻二进制资料位元间 出现数値变化,使该第一电压位准以该第一驱动强 度驱动一段预定时间周期,以及然后于该段预定时 间周期经过后,使该第一电压位准以该第二驱动强 度驱动。 8.一种用于发送信号之方法,包含下列步骤: 循序接收多个二进制位元値,以供由耦接至一导体 之一驱动器电路予以驱动到该导体上; 若一目前二进制位元値系与紧接前一个二进制位 元値不同,则停止驱动表示该紧接前一个二进制位 元値之二电压位准之一至该导体,而以高驱动强度 把表示该目前二进制位元値之该二电压位准中之 另一者驱动至该导体;以及 若该目前二进制位元値系与紧接前一个二进制位 元値相同,则继续以一低驱动强度来驱动表示该紧 接前一个二进制位元値之一电压位准至该导体,来 表示该目前二进制位元値。 9.如申请专利范围第8项之方法,进一步包含储存该 紧接前一个二进制位元値于该驱动器电路内,来与 该目前二进制位元値比较。 10.如申请专利范围第8项之方法,其中欲发送之二 进制位元値1系以驱动一高电压位准至该导体来表 示,以及欲发送之二进制位元値0系以驱动一低电 压位准至该导体来表示。 11.如申请专利范围第10项之方法,进一步包含: 若该紧接前一个二进制位元値为0而该目前二进制 位元値为1,则停止驱动一低电压位准至该导体,而 以高驱动强度驱动一高电压位准至该导体; 若该紧接前一个二进制位元値与该目前二进制位 元値皆为0,则持续以一低驱动强度驱动一低电压 位准至该导体; 若该紧接前一个二进制位元値为1而该目前二进制 位元値为0,则停止驱动一高电压位准至该导体,而 以高驱动强度驱动一低电压位准至该导体;以及 若该紧接前一个二进制位元値与该目前二进制位 元値皆为1,则持续以一低驱动强度驱动一高电压 位准至该导体。 12.一种用于发送信号之方法,包含下列步骤: 循序接收多个二进制位元値,以藉耦接至一导体之 一驱动器电路来驱动到该导体上; 若一目前二进制位元値系与紧接前一个二进制位 元値不同,则停止驱动表示该紧接前一个二进制位 元値之二电压位准之一至该导体,而以高驱动强度 把表示该目前二进制位元値之该二电压位准中之 另一者驱动至该导体达一段预定时间周期,以及然 后当已经经过该段预定时间周期时降低用来驱动 该二电压位准中之该另一者的驱动强度。 13.如申请专利范围第12项之方法,其中欲发送之二 进制位元値1系以驱动一高电压位准至该导体来表 示,以及欲发送之二进制位元値0系以驱动一低电 压位准至该导体来表示。 14.如申请专利范围第13项之方法,进一步包含: 若该紧接前一个二进制位元値为0而该目前二进制 位元値为1,则停止驱动一低电压位准至该导体,而 以高驱动强度驱动一高电压位准至该导体达一段 预定时间周期,以及然后降低用来驱动该高电压位 准至该导体之该驱动强度;以及 若该紧接前一个二进制位元値为1而该目前二进制 位元値为0,则停止驱动一高电压位准至该导体,而 以高驱动强度驱动一低电压位准至该导体达该段 预定时间周期,以及然后降低用来驱动该低电压位 准至该导体之该驱动强度。 图式简单说明: 第1a及1b图分别为采用多个驱动器电路之具体例之 方块图及相对应之透视图。 第2图为采用两电压位准中之一者或另一者之驱动 强度去强之具体例之时程图。 第3a、3b及3c图显示采用驱动器电路之不同实作之 具体例。 第4图为其中电压位准被驱动至导体之驱动强度改 变之具体例之流程图。 第5图为采用电脑系统之具体例之方块图。
地址 美国