发明名称 液晶显示装置之检查方法
摘要 本发明之技术课题系以缩短具有点矩阵显示部及图像显示部之液晶显示装置的检查时间。本发明的解决手段,系将含有图像显示部及数据线之点矩阵显示部上以1以上之线单位进行重覆之显示图型依照顺序或同时地显示,而检查图像显示部之电极短路。
申请公布号 TWI281997 申请公布日期 2007.06.01
申请号 TW092107157 申请日期 2003.03.28
申请人 精工电子有限公司 发明人 藤田宏之;猪狩久治
分类号 G02F1/13(2006.01) 主分类号 G02F1/13(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 1.一种液晶显示装置之检查方法,其系针对具有图 像显示部及点矩阵显示部之液晶显示装置的检查 方法,其特征为: 于上述点矩阵显示部,依序显示依每一1线以上的 段电极单位反转显示的段显示图型所构成之不同 的复数种类的显示画面,并根据此时显示在上述点 矩阵显示部之上述显示画面的显示状态,判断上述 图像显示部是否有电极短路。 2.一种液晶显示装置之检查方法,其系针对具有图 像显示部及点矩阵显示部之液晶显示装置的检查 方法,其特征为: 使依每一1线以上的段电极单位反转显示之复数个 段显示图型同时显示于上述点矩阵显示部的1个显 示画面内,并根据此时显示在上述点矩阵显示部之 上述显示画面的显示状态,判断上述图像显示部是 否有电极短路。 3.如申请专利范围第1或2项之液晶显示装置之检查 方法,其中上述段显示图型,是由不同点数所构成 的二色交错方格显示图形之依每一1线以上的段电 极单位反转显示的段显示图型。 4.如申请专利范围第1或2项之液晶显示装置之检查 方法,其中在上述图像显示部的电极短路之产生系 利用消耗电流之变化而检出。 5.如申请专利范围第1或2项之液晶显示装置之检查 方法,其中在上述图像显示部的电极短路之产生系 利用发热量之变化而检出。 6.如申请专利范围第1或2项之液晶显示装置之检查 方法,其中在上述图像显示部的电极短路之产生系 利用液晶驱动电压之变化而检出。 7.如申请专利范围第3项之液晶显示装置之检查方 法,其中上述一方之显示元件上在上述图像显示部 的电极短路之产生系利用消耗电流之变化而检出 。 8.如申请专利范围第3项之液晶显示装置之检查方 法,其中在上述图像显示部的电极短路之产生系利 用发热量之变化而检出。 9.如申请专利范围第3项之液晶显示装置之检查方 法,其中在上述图像显示部的电极短路之产生系利 用液晶驱动电压之变化而检出。 图式简单说明: 第1图系显示本发明之第2实施形态的一例之图。 第2图系显示本发明之第1实施例中之液晶面板之 图。 第3图系本发明之第1实施例中之液晶面板之图像 显示部之细部图。 第4图系本发明之第1实施例中之液晶面板之另外 的图像显示部之细部图。 第5图系显示先前技术之图像显示部检查之显示顺 序之图。 第6图系显示本发明之第1实施例中的第1显示画面 之一例之图。 第7图系显示本发明之第1实施例中的第2显示画面 之一例之图。 第8图系显示本发明之第1实施例中的第3显示画面 之一例之图。 第9图是显示本发明之第1实施例中的第4显示画面 之一例之图。 第10图是显示本发明之第1实施例中的第2显示画面 之另一例之图。 第11图是显示本发明之第1实施例中的第2显示画面 之另一例之图。 第12图系显示本发明之第2实施形态的另一例之图 。 第13图系显示本发明之第2实施形态的另一例之图 。 第14图系检查可能之组合的一览表。 第15图是显示本发明之第1实施例中在产生电极短 路时的第1显示画面之一例之图。 第16图是显示本发明之第1实施例中在产生电极短 路时在第2显示画面上之异常显示的一例之图。 第17图是显示本发明之第1实施例中在产生电极短 路时在第3显示画面上之异常显示的一例之图。 第18图是显示本发明之第1实施例中在产生电极短 路时的第4显示画面之一例之图。 第19图是显示本发明之第1实施例中在产生其他电 极短路时的第1显示画面之一例之图。 第20图是显示本发明之第1实施例中在产生其他电 极短路时的第2显示画面之一例之图。 第21图是显示本发明之第1实施例中在产生其他电 极短路时的第3显示画面之一例之图。 第22图是显示本发明之第1实施例中在产生其他电 极短路时的第4显示画面之一例之图。 第23图是显示本发明之第1实施例中液晶面板之共 通电极结线之细部图。 第24图是显示本发明之第1实施例中液晶面板之段 电极结线之细部图。
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