发明名称 动态可调式记忆体、包含该记忆体之记忆体系统、及使该记忆体能在复数种电压位准下运作之方法
摘要 一种记忆体与记忆体调整电路,其中于微处理器可视其瞬间总处理量而可在多种不同之电压位准下运作之环境中,该记忆体调整电路可回应该微处理器而容许该记忆体在复数种电压下运作。该记忆体与记忆体调整电路感测微处理器之瞬间运作电压,并对其作出回应而调整记忆体之运作电压;此外,记忆体调整电路更特别地回应记忆体运作电压上之降低或升高而分别地增加或减少记忆体之位元线感测时间间隔。
申请公布号 TWI282198 申请公布日期 2007.06.01
申请号 TW094113492 申请日期 2005.04.27
申请人 亚提森元件公司 发明人 罗勃特 C. 艾肯;达希米尔 甘地
分类号 H02J7/00(2006.01) 主分类号 H02J7/00(2006.01)
代理机构 代理人 许峻荣 新竹市民族路37号10楼
主权项 1.一种记忆体系统,其系于能够在复数种电压位准 之一下运作之一计算环境中,该电压位准系因应变 动之计算工作负载而作动态调整,该记忆体系统包 含: 一记忆体,能够在复数种电压下运作;以及 一时序调整电路,其系用以回应该记忆体之运作电 压之变化而动态地调整该记忆体之时序。 2.一种动态可调式记忆体,包含: 一记忆体核心,其包含复数个记忆体单元,该等记 忆体单元中的每一个能够储存一位元之数位资讯, 该记忆体核心能够在复数种电压位准下储存该数 位资讯; 一记忆体感测电路,其系连接至该记忆体核心,以 感测一所选择记忆体单元之内容,该记忆体感测电 路能够在复数种电压位准下运作;以及 一时序(timing)调整电路,其系连接至该记忆体核心 与该记忆体感测电路,以因应该记忆体之运作电压 之变化而调整该记忆体感测电路之时序。 3.一种使一半导体记忆体能够在复数种电压位准 下运作之方法,该方法包含下列步骤: 设定该半导体记忆体之运作电压;以及 调整连接至该半导体记忆体之一记忆体感测电路 之感测时序,以使该记忆体感测电路在设定运作电 压下感测该半导体记忆体之内容。 4.如申请专利范围第3项之使一半导体记忆体能够 在复数种电压位准下运作之方法,其中: 该设定该半导体记忆体之运作电压之步骤系于该 半导体记忆体之运作期间动态地发生。 5.如申请专利范围第3项之使一半导体记忆体能够 在复数种电压位准下运作之方法,其中: 该调整感测时序之步骤更包含:在已降低该半导体 记忆体之运作电压时,增加感测该半导体记忆体中 之一储存位元之内容所容许之时间间隔。 6.如申请专利范围第5项之使一半导体记忆体能够 在复数种电压位准下运作之方法,其中: 该增加时间间隔之步骤更包含:当降低该半导体记 忆体之运作电压时,将附加延迟元件连接至该记忆 体感测电路。 7.如申请专利范围第2项之动态可调式记忆体,其中 : 该时序调整电路系将延迟元件连接至该记忆体感 测电路,且于一读取作业期间,增加该记忆体感测 电路必须侦测该记忆体核心之内容之时间量。 8.如申请专利范围第7项之动态可调式记忆体,其中 : 该时序调整电路针对该可动态调整之记忆体所连 接之一计算系统中变化之运作电压位准作出回应 。 9.如申请专利范围第1项之记忆体系统,其中: 该计算环境至少包含一微处理器,该微处理器连接 至该记忆体与该时序调整电路,该时序调整电路动 态地回应该微处理器之运作电压之变化。 10.如申请专利范围第1项之记忆体系统,其中: 该计算环境包含至少一控制器与至少一连接至该 控制器之第一感测器,该时序调整电路系连接至该 控制器,且在该控制器之运作电压改变时动态地回 应该控制器。 图式简单说明: 图1系本发明中所使用之时延电路之特殊实施例的 电路图。 图2系依据本发明之第一实施例之电脑系统的方块 图。
地址 美国
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