驱动器电路、测试装置以及调整方法

摘要

本发明提供一种用于测试待测元件的测试装置。测试装置包括测试信号产生部分，其用于产生待提供至待测元件的测试信号；驱动器电路，其用于向待测元件提供测试信号；以及判定部分，其用于根据测试信号基于待测元件所输出之输出信号而判定待测元件是好或坏。驱动器电路包括主驱动器以及子驱动器，其分别用于输出各种根据测试信号之驱动信号；微分电路，其用于输出藉由对子驱动器所输出之驱动信号求微分而获得的微分信号；以及添加部分，其用于向待测元件提供具有根据测试信号之波形的信号，其藉由将微分信号加至主驱动器所输出之驱动信号而获得。