发明名称 记忆体卡测试装置
摘要 一种记忆体卡测试装置,属于记忆体卡检测装置。包括记忆体检测扩展卡和记忆体卡插口,所述记忆体检测扩展卡的金属触片分别引出弹性金属片形成记忆体卡插口,记忆体卡插口两侧的弹性金属片分别由绝缘材料固定黏结成一体,弹性金属片的外侧分别设置D形轴,D形轴接触绝缘材料并间接驱动弹性金属片向记忆体卡插口内侧缩进,所述D形轴的一端设置相互啮合的齿轮。该记忆体卡测试装置在测试时待测记忆体卡金手指与记忆体卡插口的弹性金属片间无面摩擦接触,对弹性金属片和记忆体卡金手指的磨损几乎为零,不仅保护记忆体卡的金手指,还延长了测试装置的使用寿命,同时测试方便,检测性能佳。该记忆体卡测试装置可用于各种插拔式记忆体卡的测试,还可用于数位或电子产品记忆体的测试。
申请公布号 TWM313294 申请公布日期 2007.06.01
申请号 TW095222930 申请日期 2006.12.27
申请人 苏州工业园区剑恒电子有限公司 SUZHOU INDUSTRY PARK K&F ELECTRONIC CO., LTD. 中国 发明人 顾焕军
分类号 G11C29/56(2006.01) 主分类号 G11C29/56(2006.01)
代理机构 代理人 洪尧顺 台北市内湖区行爱路176号3楼
主权项 1.一种记忆体卡测试装置,包括一记忆体检测扩展 卡和一记忆体卡插口,其特征在于,所述记忆体检 测扩展卡的一金属触片分别引出一弹性金属片形 成记忆体卡插口,记忆体卡插口两侧的弹性金属片 分别由一绝缘材料固定黏结成一体,弹性金属片的 外侧分别设置D形轴,D形轴接触绝缘材料并间接驱 动弹性金属片向记忆体卡插口内侧缩进,所述D形 轴的一端设置相互喃合的齿轮。 2.如申请专利范围第1项所述的一种记忆体卡测试 装置,其特征在于所述D形轴为平行设置的两变径 轴,D形轴两端均设置相互啮合的齿轮。 3.如申请专利范围第1项所述的一种记忆体卡测试 装置,其特征在于所述的记忆体检测扩展卡的每个 金属触片分别引出两弹性金属片形成记忆体卡插 口,弹性金属片与待测记忆体卡的金手指对应接触 。 4.如申请专利范围第1项所述的一种记忆体卡测试 装置,其特征在于所述弹性金属片为弯曲的铍铜或 磷铜金属弹片。 5.如申请专利范围第1项所述的一种记忆体卡测试 装置,其特征在于所述绝缘材料为条形的工程塑料 液晶聚合物,所述弹性金属片黏结固定在绝缘材料 的一侧,条形的绝缘材料沿所述D形轴平行方向设 置并与D形轴接触。 6.如申请专利范围第1项所述的一种记忆体卡测试 装置,其特征在于所述绝缘材料为条形的树脂聚合 物,所述弹性金属片固定贯穿该条形绝缘材料,条 形的绝缘材料沿所述D形轴平行方向设置并与D形 轴接触。 7.如申请专利范围第1项所述的一种记忆体卡测试 装置,其特征在于所述记忆体卡插口外设置壳体, 所述D形轴平行设置在壳体内,其两端架设在壳体 上,壳体外的D形轴设置相互啮合的齿轮,其中一D形 轴的齿轮端固定一杠杆手柄。 8.如申请专利范围第7项所述的一种记忆体卡测试 装置,其特征在于所述杠杆手柄和所述壳体上设置 配合的限位元装置。 图式简单说明: 图1为实施例中记忆体卡测试装置的部分剖面结构 示意图; 图2为图1的A-A向剖面放大结构示意图; 图3为图1的B向放大结构示意图; 图4为实施例中记忆体卡测试装置测试状态部分剖 面结构示意图; 图5为图4的C-C向剖面放大结构示意图; 图6为图4的D向放大结构示意图。
地址 中国