发明名称 晶片体电阻率检测仪器的探头固定架
摘要 俯视图与仰视图对称,省略俯视图。
申请公布号 CN3651724D 申请公布日期 2007.05.30
申请号 CN200630038482.6 申请日期 2006.06.30
申请人 上海星纳电子科技有限公司 发明人 朱洪伟
分类号 10-05 主分类号 10-05
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 左一平
主权项
地址 201108上海市虹梅南路3609号4号楼二楼