发明名称 |
用于光记录/再现设备的故障信号检测设备和方法 |
摘要 |
一种用于光记录/再现设备的故障信号检测设备和检测方法。所述检测设备包括:最大值检测单元,检测在最大值检测周期输入的信号中最高幅值,作为最大值;最小值检测单元,检测在最小值检测周期输入的信号中最低幅值,作为最小值;不对称检测单元,通过检测在信号输入中具有最大周期信号I<SUB>L</SUB>的最大值I<SUB>L</SUB><SUP>max</SUP>和最小值I<SUB>L</SUB><SUP>min</SUP>,以及通过检测信号输入中具有最小周期信号I<SUB>S</SUB>的最大值I<SUB>S</SUB><SUP>max</SUP>和最小值I<SUB>S</SUB><SUP>min</SUP>,来计算不对称量δ;以及故障确定单元,利用最大值、最小值和不对称量δ来确定信号输入中是否有故障信号。 |
申请公布号 |
CN1317709C |
申请公布日期 |
2007.05.23 |
申请号 |
CN200410002828.7 |
申请日期 |
2004.01.17 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
柳恩真;李载旭 |
分类号 |
G11B20/18(2006.01);G11B7/00(2006.01) |
主分类号 |
G11B20/18(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
邵亚丽;马莹 |
主权项 |
1.一种用于光记录/再现设备的故障信号检测设备,包括:最大值检测单元,根据参考最大值,检测在最大值检测周期的输入信号中的最高幅值,将其作为最大值;最小值检测单元,根据参考最小值,检测在最小值检测周期的输入信号中的最低幅值,将其作为最小值;不对称检测单元,通过检测在输入信号中具有最大周期信号IL的最大值IL max和最小值IL min,以及通过检测输入信号中具有最小周期信号IS的最大值IS max和最小值IS min,来计算不对称量δ,其中<math> <mrow> <mi>δ</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <mfrac> <mrow> <msubsup> <mi>I</mi> <mi>L</mi> <mi>max</mi> </msubsup> <mo>+</mo> <msubsup> <mi>I</mi> <mi>L</mi> <mi>min</mi> </msubsup> </mrow> <mn>2</mn> </mfrac> <mo>-</mo> <mfrac> <mrow> <msubsup> <mi>I</mi> <mi>S</mi> <mi>max</mi> </msubsup> <mo>+</mo> <msubsup> <mi>I</mi> <mi>S</mi> <mi>min</mi> </msubsup> </mrow> <mn>2</mn> </mfrac> </mrow> <mrow> <msubsup> <mi>I</mi> <mi>L</mi> <mi>max</mi> </msubsup> <mo>-</mo> <msubsup> <mi>I</mi> <mi>L</mi> <mi>min</mi> </msubsup> </mrow> </mfrac> <mo>;</mo> </mrow> </math> 以及故障确定单元,利用最大值、最小值和不对称量δ来确定输入信号中是否有故障信号,如果最大值与最小值的比值大于1+Δ-δ,或小于1-Δ-δ时,则故障确定单元确定出故障信号,并输出一个相应的空白信号,其中Δ是最大值与最小值比值的容限,其中,将在最大值检测单元中检测的最大值设置为下一个最大值检测周期的参考最大值,并且,将在最小值检测单元中检测的最小值设置为下一个最小值检测周期的参考最小值。 |
地址 |
韩国京畿道 |