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发明名称 INTERNAL TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 KR100721192(B1) 申请公布日期 2007.05.23
申请号 KR20010038912 申请日期 2001.06.30
申请人 发明人
分类号 G11C8/18 主分类号 G11C8/18
代理机构 代理人
主权项
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