| 发明名称 | 晶片体电阻率检测仪器 | ||
| 摘要 | 1.本外观设计产品由组件1控制柜和组件2测试平台构成。2.组件2的平台上设有抽屉A，抽屉A内放置键盘和鼠标。 | ||
| 申请公布号 | CN3648826D | 申请公布日期 | 2007.05.23 |
| 申请号 | CN200630038480.7 | 申请日期 | 2006.06.30 |
| 申请人 | 上海星纳电子科技有限公司 | 发明人 | 邓超明;朱洪伟 |
| 分类号 | 10-05 | 主分类号 | 10-05 |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 左一平 |
| 主权项 | |||
| 地址 | 201108上海市虹梅南路3609号4号楼二楼 | ||