发明名称 减少表面黏着型被动元件在测试时产生刮痕的方法
摘要 揭示一种减少表面黏着型被动元件在测试时产生刮痕的方法。一测试机系包含一传动机构与一活动式探测机构。该传动机构系用以连续地装载与移动复数个表面黏着型被动元件,该活动式探测机构系用以电接触该些表面黏着型被动元件之电极。在连续式多站测试之过程中,该活动式探测机构系与该传动机构同步移动,直到分类,以减少测试刮痕。在一实施例中,该活动式探测机构系结合有碳刷,以达移动式电接触。
申请公布号 TWI281542 申请公布日期 2007.05.21
申请号 TW095115023 申请日期 2006.04.27
申请人 苏冠杰 发明人 苏冠杰
分类号 G01R1/02(2006.01) 主分类号 G01R1/02(2006.01)
代理机构 代理人 许庆祥 高雄市苓雅区新光路24巷31号
主权项 1.一种减少表面黏着型被动元件在测试时产生刮 痕的方法,包含: 提供一测试机之一传动机构与一活动式探测机构; 连续地装载复数个表面黏着型被动元件至该传动 机构,并电接触该些表面黏着型被动元件之电极至 该活动式探测机构;以及 对该些表面黏着型被动元件进行连续式多站测试, 在测试过程中该活动式探测机构系与该传动机构 同步移动,直到分类,以减少测试刮痕。 2.如申请专利范围第1项所述之减少表面黏着型被 动元件在测试时产生刮痕的方法,其中该活动式探 测机构系结合有碳刷。 3.如申请专利范围第2项所述之减少表面黏着型被 动元件在测试时产生刮痕的方法,其中该测试机另 包含有复数个测试机构,该些测试机构系具有复数 个金属垫,其系位于上述碳刷之移动路径上。 4.如申请专利范围第1项所述之减少表面黏着型被 动元件在测试时产生刮痕的方法,其中该活动式探 测机构系具有复数个吸附孔,在测试过程中吸附该 些表面黏着型被动元件。 5.如申请专利范围第1项所述之减少表面黏着型被 动元件在测试时产生刮痕的方法,其中在测试过程 中该传动机构与该活动式探测机构系为定速移动 。 6.一种表面黏着型被动元件之测试系统,包含: 一传动机构,用以连续地装载复数个表面黏着型被 动元件;以及 一活动式探测机构,用以电接触该些表面黏着型被 动元件之电极并可与该传动机构同步移动,其中该 活动式探测机构系结合有碳刷。 7.如申请专利范围第6项所述之表面黏着型被动元 件之测试系统,另包含有复数个测试机构,该些测 试机构系具有复数个金属垫,其系位于上述碳刷之 移动路径上。 8.如申请专利范围第6项所述之表面黏着型被动元 件之测试系统,其中该传动机构系为转盘式。 9.如申请专利范围第6项所述之表面黏着型被动元 件之测试系统,其中该传动机构系为轨道式。 10.如申请专利范围第6项所述之表面黏着型被动元 件之测试系统,其中该传动机构与该活动式探测机 构系为一体结合。 图式简单说明: 第1图:习知表面黏着型被动元件之立体图。 第2图:习知用以测试表面黏着型被动元件之测试 机之正面示意图。 第3图:习知用以测试表面黏着型被动元件之测试 机之截面示意图。 第4图:依据本发明之第一具体实施例,一种用以测 试表面黏着型被动元件之测试机之截面示意图。 第5图:依据本发明之第一具体实施例,该测试机之 碳刷与测试机构之金属垫之相对位置示意图。 第6图:依据本发明之第二具体实施例,另一种用以 测试表面黏着型被动元件之测试机之截面示意图 。 第7图:依据本发明之第二具体实施例,该测试机之 俯视图。 第8图:依据本发明之第二具体实施例,其中一表面 黏着型被动元件于该测试机内之截面示意图。
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