发明名称 |
整合型干涉扫描方法 |
摘要 |
本发明整合型干涉扫描方法主要是整合VSI、PSI测量各自的优点,而达到没有测量范围限制以及高精确度的特点。尤其是基于VSI测量和PSI测量之间的斜率校正因子、位移校正因子,对VSI、PSI的高度数据数组进行整合计算,干涉扫描系统可仅使用宽频光源即可完成所需的扫描程序,进而降低扫描系统的复杂度与误差。 |
申请公布号 |
CN1963376A |
申请公布日期 |
2007.05.16 |
申请号 |
CN200510115621.5 |
申请日期 |
2005.11.08 |
申请人 |
致茂电子股份有限公司 |
发明人 |
林耀明;张维哲;张宏彰;廖界程 |
分类号 |
G01B9/023(2006.01);G01B11/24(2006.01) |
主分类号 |
G01B9/023(2006.01) |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张敬强 |
主权项 |
1.一种整合型干涉扫描方法,是整合水平扫描测量、相位移测量所测量出的高度数据数组,该高度数据数组可用来计算出待测物的表面轮廓,该整合型干涉扫描方法包含:借助宽频光源的干涉扫描系统对该待测物进行扫描,并获得扫描信息;基于该扫描信息以VSI测量出VSI的该高度数据数组;针对零光程差的位置,基于该扫描信息改以PSI测量出PSI的该高度数据数组;以及基于VSI测量和PSI测量之间的斜率校正因子、位移校正因子,对VSI的该高度数据数组、PSI的该高度数据数组进行整合计算。 |
地址 |
中国台湾桃园县 |