发明名称 整合型干涉扫描方法
摘要 本发明整合型干涉扫描方法主要是整合VSI、PSI测量各自的优点,而达到没有测量范围限制以及高精确度的特点。尤其是基于VSI测量和PSI测量之间的斜率校正因子、位移校正因子,对VSI、PSI的高度数据数组进行整合计算,干涉扫描系统可仅使用宽频光源即可完成所需的扫描程序,进而降低扫描系统的复杂度与误差。
申请公布号 CN1963376A 申请公布日期 2007.05.16
申请号 CN200510115621.5 申请日期 2005.11.08
申请人 致茂电子股份有限公司 发明人 林耀明;张维哲;张宏彰;廖界程
分类号 G01B9/023(2006.01);G01B11/24(2006.01) 主分类号 G01B9/023(2006.01)
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人 张敬强
主权项 1.一种整合型干涉扫描方法,是整合水平扫描测量、相位移测量所测量出的高度数据数组,该高度数据数组可用来计算出待测物的表面轮廓,该整合型干涉扫描方法包含:借助宽频光源的干涉扫描系统对该待测物进行扫描,并获得扫描信息;基于该扫描信息以VSI测量出VSI的该高度数据数组;针对零光程差的位置,基于该扫描信息改以PSI测量出PSI的该高度数据数组;以及基于VSI测量和PSI测量之间的斜率校正因子、位移校正因子,对VSI的该高度数据数组、PSI的该高度数据数组进行整合计算。
地址 中国台湾桃园县