| 发明名称 | 调制传递函数的测量仪及测量方法 | ||
| 摘要 | 一种用于光学系统调制传递函数的调制传递函数的测量仪及测量方法，本测量仪由计算机及其液晶显示屏，支架，二维彩色CCD和基座组成。测量原理是利用计算机产生的随机噪声图作为检测输入，通过分析成像前后图像的功率谱密度，本发明只需一次测量就可快速检测得到光学系统的MTF曲线。该仪器通过计算机程序改变检测输入图像，不仅具有快速检测的特点，也可以方便分析影响调制传递函数的各种因素。 | ||
| 申请公布号 | CN1963430A | 申请公布日期 | 2007.05.16 |
| 申请号 | CN200610119331.2 | 申请日期 | 2006.12.08 |
| 申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 赵罡;朱健强 |
| 分类号 | G01M11/00(2006.01);G01M11/02(2006.01) | 主分类号 | G01M11/00(2006.01) |
| 代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
| 主权项 | 1.一种用于光学系统调制传递函数检测的调制传递函数的测量仪，特征在于其构成包括计算机，该计算机的输出端接液晶显示器(101)，该液晶显示器(101)、支架(106)和二维彩色CCD(103)位于一基座(104)的一直线上，所述的二维彩色CCD(103)的输出端接所述的计算机的输入端，待测的光学系统(102)置放在所述的支架(106)上，调整使所述的液晶显示器(101)、待测的光学系统(102)和二维彩色CCD(103)同光轴并满足成像关系，所述的计算机具有随机图样生成软件和相应的数据处理软件。 | ||
| 地址 | 201800上海市800－211邮政信箱 | ||