| 发明名称 | 用于检查物体的方法和设备 | ||
| 摘要 | 一种利用结构光测量系统(10)来检查物体(12)的方法(34)，该结构光测量系统包括光源(22)和成像传感器(24)。所述方法包括：从光源发射(36)光；在不同的偏振角处使从光源发射的多个不同波长中的每个波长的光偏振(38)；将从光源发射的光投射(40)到物体的表面上；利用成像传感器接收(42)从物体表面反射的光；以及分析(46)由成像传感器所接收的光以便于检查物体的至少一部分。 | ||
| 申请公布号 | CN1963381A | 申请公布日期 | 2007.05.16 |
| 申请号 | CN200610164125.3 | 申请日期 | 2006.10.24 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | K·G·哈丁 |
| 分类号 | G01B11/00(2006.01);G01B11/02(2006.01);G01B11/24(2006.01);G01N21/00(2006.01);G01N21/88(2006.01) | 主分类号 | G01B11/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 李亚非;梁永 |
| 主权项 | 1、一种利用结构光测量系统(10)来检查物体(12)的方法(34)，该结构光测量系统包括光源(22)和成像传感器(24)，所述方法包括：从光源发射(36)光；在不同的偏振角处使从光源发射的多个不同波长中的每个波长的光偏振(38)；将从光源发射的光投射(40)到物体的表面上；利用成像传感器接收(42)从物体表面反射的光；以及分析(46)由成像传感器所接收的光以便于检查物体的至少一部分。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||