平行光激发与垂直光纤探测固体荧光的方法

摘要

本发明公开了一种平行光激发与垂直光纤探测固体荧光的方法，属于固体荧光光谱测量技术领域。该方法采用包括缩束准直器，双透镜4f成像系统，滤波器和光纤探测器进行探测固体荧光，其过程包括：将激发光束经缩束准直后形成光斑直径小于1mm的平行光束，沿样品测量面边缘一侧平行入射激发样品发射荧光，样品发出的荧光在与激发光垂直方向上被双透镜成像系统汇聚和成像在该系统的后焦平面上，在荧光像处的最大荧光位置放置芯径小于200微米的光纤探测器探测荧光。本发明优点在于，该方法不需对测试样品进行严格尺寸加工，探测过程简便；保证了样品中不同深度功率密度相同，荧光采样与样品的实际尺寸无关，测量结果真实。

主权项

1.一种平行光激发与垂直光纤探测固体荧光的方法，采用包括缩束准直器，双透镜4f成像系统，滤波器和光纤探测器进行探测固体荧光，其特征在于包括以下过程：将激发光束经缩束准直后形成光斑直径小于1mm的平行光束，沿样品测量面边缘一侧平行入射激发样品发射荧光，样品发出的荧光在与激发光垂直方向上被双透镜成像系统汇聚和成像在该系统的后焦平面上，在荧光像处的最大荧光位置放置芯径小于200微米的光纤探测器探测荧光。