发明名称 |
校正共振频率变化的方法和磁共振成像设备 |
摘要 |
本发明公开了一种校正共振频率变化的方法和MRI设备,这种校正共振频率变化的方法和MRI设备都能够处理包括其时间变化较慢的频率偏移、在片层方向的频率漂移以及其时间变化较快的频率偏移的所有频率漂移。测量共振频率变化量,在共振频率变化量小于阈值时校正该频率变化。在另一方面,在共振频率变化量不小于该阈值时存储共振频率变化量并在其后根据该共振频率变化量进行校正操作。 |
申请公布号 |
CN1315428C |
申请公布日期 |
2007.05.16 |
申请号 |
CN02106118.1 |
申请日期 |
2002.04.04 |
申请人 |
GE医疗系统环球技术有限公司 |
发明人 |
植竹望 |
分类号 |
A61B5/055(2006.01);G01R33/48(2006.01) |
主分类号 |
A61B5/055(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
王岳;王忠忠 |
主权项 |
1.一种校正共振频率变化的方法,该方法包括如下的步骤:在每次通过将相位编码量上不同的成像脉冲序列重复多次来采集填充k空间的成像数据时,测量共振频率变化量;在共振频率变化量小于阈值时校正频率变化;在共振频率变化量不小于该阈值时,与这次成像数据相对应地存储共振频率或共振频率变化量而不校正频率变化;以及在采集填充k空间的成像数据之后,在与成像数据的一定相位编码量相对应地存储共振频率或共振频率变化量时,对成像数据进行校正操作。 |
地址 |
美国威斯康星州 |