| 主权项 |
1.一种用以执行与测试下之电组成件之至少一测试点及电路之至少一接触点接触之测试头,该测试头包含:一弹性及导电性材料之接触元件,当测试下之组成件及电路之接触点相分开一第一矩离时,接触元件具有一第一端用以接触电组成件之测试点,及一相对第二端用以接触电路之接触点;一第二导板与测试点分开,一第二导板与接触点分开,及第一及第二导板相互分开;在第一板中之各别第一馈通孔,及在第二板中之各别馈通孔,供接触元件通过,第一俄第二孔在横向上偏离且不对齐;接触元件穿过第一导板中之各别第一孔及第二板中之各别第二馈通孔,第一及第二孔在横向上相互偏离至一程度,使弹性材料接元件以摩擦锁定之方式充分保持个定于各别第一及第二孔之至少之一中,俾接触元件可压于测试点及接触点上,不致由于与测试点及接触点接触之压力而移动通过第一及第二孔,及接触元件可移进及移出第一及第二孔,俾自其中移出或在其中更换。2.如申请专利范围第1项所述之测试头,包含多组,各由一测试点之,一各别接触点,及每组测试点及接触点之各别一接触元件构成;第一及第二板各具有每一接触元件用之第一及第二孔,第一及第二孔在横向上偏离,俾由摩擦保持穿过其中之各别接触元件固定。3.如申请专利范围第2项所述之测试头,另包含一第三导板,与第一及第二导板,及与测试点及接触点之至少之一分开;一各别第三导孔穿过第三导板,供每一接触元件通过其中,第三板中之各别第三导孔在横向上偏离第一及第二板之相邻一个中之导孔,以提供接触元件及第一,第二,及第三各别孔之至少之一间之摩擦接触,俾由摩擦保持接触元件固定于孔中。4.如申请专利范围第3项所述之测试头,其中,各导板依第一,第二,及第三板之次序安排,及第一及第二孔不对齐,及第二及第三孔不对齐。5.如申请专利范围第4项所述之测试头,其中,各别第一及第三板中之接触元件用之第一及第三孔对齐,同时,各别接触元件用之第二板中之第二孔与第一及第三孔不对齐。6.如申请专利范围第4项所述之测试头,其中,每一接触元件由一弹性导电性材料构成。7.如申请专利范围第6项所述之测试头,其中,每一接触元件包含一弯曲电线。8.如申请专利范围第6项所述之测试头,其中,接触元件之至少一端包含一各别接触尖。9.如申请专利范围第8项所述之测试头,其中,面对各别测试点之接触元件之各别端可压于测试点上。10.如申请专利范围第9项所述之测试头,其中,接触元件之朝向接触点之一之各别端压于接触点上,及当压于测试点上时,达成测试点及接点间之电接触。11.如申请专利范围第4项所述之测试头,其中,接触点设于测试单位上。12.如申请专利范围第4项所述之测试头,其中,接触点各连接至可引导至另一装置之一电线。13.如申请专利范围第1项所述之测试头,另包含一第三导板与第一及第二导板及测试点及接触点分开;一各别第三孔穿过第三导板,供接元件通过其中,第三板之第三导孔在横向上偏离且不对齐第一及第二板之相邻一个之导孔,用以提供摩擦接触于接触元件及第一,第二,及第三孔之间,因而,用以由摩擦保持接触元件于孔中。图式简单说明:第一图显示通过本发明之测试头之第一实施例之断面之基本轮廓,及第二图显示测试头之另一实施例之基本概要轮廓。 |
