发明名称 非挥发性记忆体之构造
摘要 一种记忆体之构造,例如是先提供基底,基底中具有多个隔离沟渠。于曝露出部分之基底上具有第一介电层。另外,第一导体层形成于第一介电层之上。接着,第二导体层于第一导体层之上,使隔离结构与第一介电层之高度相约。然后,第二介电层于基底表面。继而,第三导体层于第二介电层之上。
申请公布号 TWM312009 申请公布日期 2007.05.11
申请号 TW095211466 申请日期 2006.06.30
申请人 廖柏东 发明人 廖柏东
分类号 H01L21/8239(2006.01) 主分类号 H01L21/8239(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种记忆体之构造,包括: 一基底,具有多个隔离沟渠; 于曝露出部分之该基底具有一第一介电层; 一第一导体层于该第一介电层之上; 一第二导体层于该第一导体层之上,并填满该些隔 离结构间之空隙; 该些隔离结构与该第一介电层之高度相约; 一第二介电层于该基底表面;以及 一第三导体层于该第二介电层之上。 图式简单说明: 图1A是绘示之本创作一实施例之非挥发性记忆体 之构造剖图。
地址 新竹市光复路1段403巷8弄8之1号5楼