| 主权项 |
1.一种元件通孔之量测装置,其包含: 一检测平台,其用以输送一待测元件至一量测位置 ; 一内视柱体,其相对位于该检测平台下方,并设有 一内视镜面; 一光源模组,其相对位于该检测平台上方;及 一影像撷取单元,其相对位于该检测平台及光源模 组上方; 在量测过程中,该内视柱体相对该检测平台上升, 带动该内视镜面上升至对位于该待测元件之一通 孔内部,该光源模组提供光源进入该待测元件之通 孔内,经由该内视镜面反射该光源,使该影像撷取 单元取得该待测元件之通孔内部影像。 2.依申请专利范围第1项所述之元件通孔之量测装 置,其中该内视柱体、光源模组及影像撷取单元由 下而上依序固设于一可动式量测座上,该内视柱体 、光源模组及影像撷取单元之相对距离固定不变, 以提升量测精确性。 3.依申请专利范围第2项所述之元件通孔之量测装 置,其中另包含一基座轨道,该可动式量测座可移 动的结合于该基座轨道上,以供调整该可动式量测 座相对于该输送带之高度位置。 4.依申请专利范围第1项所述之元件通孔之量测装 置,其中该光源模组及影像撷取单元由下而上依序 固设于一基座轨道上,仅由该内视柱体相对该检测 平台进行升降动作。 5.依申请专利范围第4项所述之元件通孔之量测装 置,其中该内视柱体之升降方式系选自滑块、齿轮 、螺旋、油压之升降方式,以便进入该待测元件内 部反射影像。 6.依申请专利范围第1项所述之元件通孔之量测装 置,其中该内视柱体之内视镜面相对水平面具有一 倾斜角度,该角度介于30至60之间。 7.依申请专利范围第1项所述之元件通孔之量测装 置,其中该光源模组包含一光源单元及一半透镜片 。 8.依申请专利范围第7项所述之元件通孔之量测装 置,其中该光源单元系选自发光二极体。 9.依申请专利范围第7项所述之元件通孔之量测装 置,其中该半透镜片设置于该影像撷取单元及内视 镜面之间。 10.依申请专利范围第9项所述之元件通孔之量测装 置,其中该半透镜片相对该内视镜面及影像撷取单 元之连线形成倾斜,该半透镜片之倾斜角度介于30 至60之间。 11.依申请专利范围第1项所述之元件通孔之量测装 置,其中该检测平台系选用输送带、输送转盘、机 械手臂,以输送该待测元件至该通孔。 12.依申请专利范围第1项所述之元件通孔之量测装 置,其中该检测平台具有一穿孔,该穿孔对位于该 待测元件之通孔,以便该内视柱体之内视镜面上升 至对位于该待测元件之通孔内部。 13.依申请专利范围第1项所述之元件通孔之量测装 置,其中该影像撷取单元系选自CCD型、CMOS型之数 位影像撷取单元。 14.依申请专利范围第1项所述之元件通孔之量测装 置,其中该元件通孔之量测装置检测之待测元件系 属螺帽。 15.依申请专利范围第1项所述之元件通孔之量测装 置,其中该内视镜面系呈锥形。 图式简单说明: 第1图:本发明第一实施例之元件通孔之量测装置 之侧视图。 第2图:本发明第一实施例之元件通孔之量测装置 在量测期间之侧视图。 第3图:本发明第二实施例之元件通孔之量测装置 之侧视图。 第4图:本发明第二实施例之元件通孔之量测装置 在量测期间之侧视图。 |
