| 摘要 |
Die vorliegende Erfindung eliminiert die Indexzeit eines SOC-Testers oder reduziert dieselbe zumindest auf die Zeitverzögerung für einen elektronischen Schalter zum Schalten oder für das Auftreten einer mechanischen Verschiebung zwischen zwei Blöcken von DUTs, die zu testen sind, auf einer DUT-Ladeplatine, die auf einem Testkopf befestigt ist.
|
