| 主权项 |
1.一种测定装置之使用限制装置,包括:一个设在测定装置之使用限制条件设定部件,该使用限制条件设定部件具有至少一种限制测定装置之使用之条件;一个用以监视测定装置之使用及在达到至少一种限制条件之预定数目时产生限制条件符合信号之监视部件;及一个可回应限制条件符合信号并使测定装置之至少一部份功能失效之使用限制部件。2.如申请专利范围第1项所述之使用限制装置,其中该回应限制条件符合信号之使用限制部件除了可使测定装置之至少部份功能失效之外,亦可产生限制条件符合代表讯息。3.一种测定装置之使用限制装置,包括:一个设在测定装置之使用限制条件设定部件,该使用限制条件设定部件具有至少一种限制测定装置之使用之条件;一个用以监视测定装置之使用及在达到至少一种限制条件之预定数目时产生限制条件符合信号之监视部件;及一个可回应限制条件符合信号并可产生限制条件符合代表讯息之使用限制部件。4.如申请专利范围第1项所述之装置,另外包括:一个警示条件设定部件,可设定至少一种警示条件以回应测定装置之相对限制条件,警示条件比限制条件更易达至;当至少一种警示条件之预定数目到达时,监视部件将产生警示信号;及回应警示条件可产生警示讯息之警示部件。5.如申请专利范围第1项所述之装置,另外包括:一个限度导出部件,可比较由监视部件监视之测定装置之目前使用状态与相对应之使用限制条件设定部件所设定之使用限制条件,并提供使用限制条件达至时显示剩余限度之讯息;及一限度输出部件,以产生导出限度之讯息输出。6.如申请专利范围第1项所述之装置,其中:使用限制条件设定部件将依据使用限制条件设定使用者可允许使用测定装置之期限;及该监视部件将量测测定装置之启始使用时间,并在期限届满时产生条件符合信号。7.如申请专利范围第1项所述之装置,其中:使用限制条件设定部件将依据使用限制条件设定使用者可允许使用测定装置之最高次数;及该监视部件将计数测定装置启始使用起之累积次数,并在测定装置被使用超过最高次数时产生条件符合信号。8.如申请专利范围第1项所述之装置,其中:使用限制条件设定部件将依据使用限制条件设定使用者可允许使用测定装置之期限及允许使用测定装置之最高次数;及该监视部件将量测测定装置之启始使用时间及计数测定装置启始使用起之累积次数,当期限届满及在测定装置被使用超过最高次数时产生条件符合信号。9.如申请专利范围第3项所述之装置,另外包括:一个警示条件设定部件,可设定至少一种警示条件以回应测定装置之相对限制条件,警示条件比限制条件更易达至;当至少一种警示条件之预定数目到达时,监视部件将产生警示信号;及回应警示条件可产生警示讯息之警示部件。10.如申请专利范围第3项所述之装置,另外包括:一个限度导出部件,可比较由监视部件监视之测定装置之目前使用状态与相对应之使用限制条件设定部件所设定之使用限制条件,并提供使用限制条件达至时显示剩余限度之讯息;及一限度输出部件,以产生导出限度之讯息输出。11.如申请专利范围第3项所述之装置,其中:使用限制条件设定部件将依据使用限制条件设定使用者可允许使用测定装置之期限;及该监视部件将量测测定装置之启始使用时间,并在期限届满时产生条件符合信号。12.如申请专利范围第3项所述之装置,其中:使用限制条件设定部件将依据使用限制条件设定使用者可允许使用测定装置之最高次数;及该监视部件将计数测定装置启始使用起之累积次数,并在测定装置被使用超过最高次数时产生条件符合信号。13.如申请专利范围第3项所述之装置,其中:使用限制条件设定部件将依据使用限制条件设定使用者可允许使用测定装置之期限及允许使用测定装置之最高次数;及该监视部件将量测测定装置之启始使用时间及计数测定装置启始使用起之累积次数,当期限届满及在测定装置被使用超过最高次数时产生条件符合信号。14.如申请专利范围第1项所述之装置,其中至少一种使用限制条件系通过外界装置输入测定装置。15.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该测定装置具有数据输入部件,而至少一种使用限制条件系通过数据输入部件输入测定装置。16.如申请专利范围第3项所述之装置,其中至少一种使用限制条件系通过外界装置输入测定装置。17.如申请专利范围第3项所述之装置,其中该测定装置具有数据输入部件,而至少一种使用限制条件系通过数据输入部件输入测定装置。18.一种测定装置之限制使用方法,其步骤包括:设定测定装置之至少一种使用限制条件;监视测定装置之使用;当至少一种限制条件之预定数目已达到时,产生限制条件符合信号;及回应限制条件符合信号使测定装置之至少部份功能失效。19.如申请专利范围第18项所述之方法,另外包括:产生限制条件符合代表讯息以回应限制条件符合信号。20.一种测定装置之限制使用方法,其步骤包括:设定测定装置之至少一种使用限制条件;监视测定装置之使用;当至少一种限制条件之预定数目已达到时,产生限制条件符合信号;及产生限制条件符合代表讯息以回应限制条件符合信号。21.如申请专利范围第18项所述之方法,另外包括:设定至少一种警示条件以回应测定装置之相对限制条件,警示条件比限制条件更易达至;当至少一种警示条件之预定数目到达时,产生警示信号。22.如申请专利范围第21项所述之方法,另外包括:产生警示讯息以回应该警示信号。23.如申请专利范围第18项所述之方法,另外包括:比较受监视之测定装置之目前使用状态与相对之限制条件,并导出直至符合相对限制条件之剩余限度之讯息;及产生导出限度之讯息输出。24.如申请专利范围第18项所述之方法,另外包括:设定作为至少一种限制条件之一之使用者可允许使用测定装置之期限;及量测测定装置之启始使用时间,并在期限届满时产生条件符合信号。25.如申请专利范围第18项所述之方法,另外包括:设定作为至少一种限制条件之一之使用者可允许使用测定装置之最高次数;及计数测定装置启始使用起之累积次数,并在测定装置被使用超过最高次数时产生条件符合信号。26.如申请专利范围第18项所述之方法,另外包括:设定作为至少一种限制条件之一之使用者可允许使用测定装置之期限及允许使用测定装置之最高次数;及量测测定装置之启始使用时间及计数测定装置启始使用起之累积次数,当期限届满及在测定装置被使用超过最高次数时产生条件符合信号。图式简单说明:第1图显示本发明之使用限制装置之一实施例;第2图系本发明之测定装置及可应用于第1图之实施例中之条件设定装置之方块图;第3图系测定装置之正面图;第4图系作为第2图所示之条件设定装置之主计算机中之CPU之操作流程图;第5图系显示测定装置中之CPU操作之状态转换示意图;第6图系第5图之状态转换图之部份之详图;第7图系第5图之状态转换图之不同部份之详图;第8图系第5图之状态转换图之另一部份之详图。 |
