发明名称 | 一种利用声波曲线刻度法确定扩径层段地层密度的方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种利用声波曲线刻度法确定扩径层段地层密度的方法。该方法包括的步骤为:首先确定扩径层段和非扩径层段,接着确定刻度因子b<SUB>0</SUB>和b<SUB>1</SUB>,再根据刻度因子b<SUB>0</SUB>和b<SUB>1</SUB>确定扩径层段地层密度。采用该方法不用再选择区域参数、特别是在无法准确知道区域参数的情况下,仍然可以确定扩径层段的地层密度,同时解决了现有技术中密度测井仪测不准扩径层段地层密度的问题。 | ||
申请公布号 | CN1959437A | 申请公布日期 | 2007.05.09 |
申请号 | CN200510117311.7 | 申请日期 | 2005.11.01 |
申请人 | 中国石油大学(北京) | 发明人 | 李洪奇;刘俊 |
分类号 | G01V1/40(2006.01) | 主分类号 | G01V1/40(2006.01) |
代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人 | 刘芳 |
主权项 | 1、一种利用声波曲线刻度法确定扩径层段地层密度的方法,其包括如下步骤:a)首先确定扩径层段和非扩径层段;b)在确定扩径层段和非扩径层段之后,确定刻度因子b0和b1;c)最后根据刻度因子b0和b1确定扩径层段地层密度。 | ||
地址 | 102249北京市昌平区府学路20号 |