发明名称 一种特殊结构的硅片、其用途和制备方法
摘要 本发明公开了一种特殊结构的硅片,除具有硅基板外,还具有氧化膜和氮化硅两层膜结构,其中OX膜结构置于硅基板和氮化硅之间。该硅片可应用于半导体制造监控工艺中作为挡控片,即用作填充片和制程监控的硅片。本发明还提出了所涉及硅片的制备方法,即在硅基板上首先采用炉管或者化学气相沉积法生长OX膜结构,膜厚控制在50埃到500埃之间;然后在所述OX膜结构上采用炉管或者化学气相沉积法生长氮化硅膜结构,膜厚控制在500埃到3000埃。本发明中硅片不易受到环境的影响而产生很多污染及干扰,可以延长挡控片的使用寿命并保证颗粒测量的精确度,并最终提高半导体制造监控工艺的准确性,降低生产成本。
申请公布号 CN1959949A 申请公布日期 2007.05.09
申请号 CN200510110008.4 申请日期 2005.11.03
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 徐开勤;陈春晖
分类号 H01L21/66(2006.01);H01L21/314(2006.01) 主分类号 H01L21/66(2006.01)
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人 丁纪铁
主权项 1、一种特殊结构的硅片,具有硅基板,其特征是,在所述硅基板上具有氧化膜和氮化硅两层膜结构,其中所述氧化膜结构置于硅基板和氮化硅之间。
地址 201206上海市浦东新区川桥路1188号