发明名称 用于测量场效电晶体特性之方法
摘要 一指示在电压测量单元的一测量电压与一由于汲极电流的汲极偏压电压中的电压降间之关系的系数系根据一偏压T的一S参数与该测量单元的一输入阻抗来决定,在该汲极的一电压降系决定自该系数。根据该决定的电压降,一实际施加至一场效电晶体之汲极的汲极偏压电压被决定。同样地,一用于将该测量单元的测量电压转换成一汲极电流的系数系根据该偏压T的两个端子对网路的一S参数及该电压测量单元的输入阻抗来决定。根据该决定的系数,实际上流入该场效电晶体的一汲极电流被决定。
申请公布号 TW200716999 申请公布日期 2007.05.01
申请号 TW095121029 申请日期 2006.06.13
申请人 安捷伦科技公司 发明人 大川康司
分类号 G01R31/26(2006.01) 主分类号 G01R31/26(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 美国