用于消除自动化测试设备转位时间之方法与装置

摘要

本发明消除安装在一测试头上的一待测元件(DUT)负载板上的二组待测试DUT之间的一单晶片系统(SOC)测试器之转位时间，或至少将其降低成针对拨动一电子开关或是出现机械性变换的时延。