发明名称 | 以相对于矽之高选择比进行之氧化矽及氮化矽的蚀刻方法与系统 | ||
摘要 | 一种基板中之特征部的蚀刻方法及系统,藉此以相对于矽之高选择比来蚀刻氧化矽或氮化矽或两者。在一实施例中,用以达到高选择比之处理化学品包含三氟甲烷(CHF3)、二氟甲烷(CH2F2)、含氧气体及选择性惰性气体,例如氩气。 | ||
申请公布号 | TW200717646 | 申请公布日期 | 2007.05.01 |
申请号 | TW095133484 | 申请日期 | 2006.09.11 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 木田花子;荻原正明;高明辉 |
分类号 | H01L21/3065(2006.01) | 主分类号 | H01L21/3065(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 周良谋;周良吉 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |