发明名称 以相对于矽之高选择比进行之氧化矽及氮化矽的蚀刻方法与系统
摘要 一种基板中之特征部的蚀刻方法及系统,藉此以相对于矽之高选择比来蚀刻氧化矽或氮化矽或两者。在一实施例中,用以达到高选择比之处理化学品包含三氟甲烷(CHF3)、二氟甲烷(CH2F2)、含氧气体及选择性惰性气体,例如氩气。
申请公布号 TW200717646 申请公布日期 2007.05.01
申请号 TW095133484 申请日期 2006.09.11
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 木田花子;荻原正明;高明辉
分类号 H01L21/3065(2006.01) 主分类号 H01L21/3065(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本