| 摘要 |
本发明系关于一种检测样品中分析物的方法，其包含下列步骤：a)将该样品与特异结合至该分析物且固定于基材上的第一配位体接触；以及b)在步骤(a)之前或之后，将该样品与特异结合该分析物且包含标记的第二配位体接触；其中，该基材包含全像感测器，该全像感测器包含支撑介质，该支撑介质具有设置于其内或其上之全像(hologram)；以及该标记系藉由使该感测器与该标记进行交互作用，或者在将该基材与试剂接触的额外步骤之后，藉由使该感测器与经由该标记与该试剂之反应而产生的物种进行交互作用，而使该感测器的光学特性改变，藉此指出经结合的分析物的存在。 |
