发明名称 高深宽比开口及其制作方法
摘要 一种制作高深宽比接触洞的方法,包含有提供半导体基材,其具有导电区域、接触洞蚀刻停止层,及层间介电层;于该层间介电层上形成一光阻图案,包含有一开口,其位于该导电区域之正上方;利用该光阻图案作为蚀刻硬遮罩,并利用该接触洞蚀刻停止层为乾蚀刻停止层,经由该开口非等向性乾蚀刻该层间介电层,形成接触洞上半部部位;去除该光阻图案;以及经由该接触洞上半部部位等向性乾蚀刻该接触洞蚀刻停止层,并形成加宽的接触洞底部,暴露出较大面积之该导电区域。
申请公布号 TW200717580 申请公布日期 2007.05.01
申请号 TW094136852 申请日期 2005.10.21
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 周佩玉;廖俊雄
分类号 H01L21/00(2006.01) 主分类号 H01L21/00(2006.01)
代理机构 代理人 许锺迪
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号
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