发明名称 | 高深宽比开口及其制作方法 | ||
摘要 | 一种制作高深宽比接触洞的方法,包含有提供半导体基材,其具有导电区域、接触洞蚀刻停止层,及层间介电层;于该层间介电层上形成一光阻图案,包含有一开口,其位于该导电区域之正上方;利用该光阻图案作为蚀刻硬遮罩,并利用该接触洞蚀刻停止层为乾蚀刻停止层,经由该开口非等向性乾蚀刻该层间介电层,形成接触洞上半部部位;去除该光阻图案;以及经由该接触洞上半部部位等向性乾蚀刻该接触洞蚀刻停止层,并形成加宽的接触洞底部,暴露出较大面积之该导电区域。 | ||
申请公布号 | TW200717580 | 申请公布日期 | 2007.05.01 |
申请号 | TW094136852 | 申请日期 | 2005.10.21 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 周佩玉;廖俊雄 |
分类号 | H01L21/00(2006.01) | 主分类号 | H01L21/00(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |