发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明提供一种安装性佳之半导体装置及其制造方法。半导体装置系包含以下构件:半导体基板10,其系具有复数电极14;树脂突起20,其系形成于半导体基板10上;及布线30,其系与电极14电性相连接,形成至树脂突起20上。在树脂突起20的上端面22形成有凹部25。在布线30上形成有缺口32,其系与凹部25的至少一部份相重叠。
申请公布号 TW200717723 申请公布日期 2007.05.01
申请号 TW095124677 申请日期 2006.07.06
申请人 精工爱普生股份有限公司 发明人 田中秀一
分类号 H01L23/00(2006.01) 主分类号 H01L23/00(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本