| 主权项 |
1.一种电源循环周期测试装置,适于测试一电子产 品之电源循环周期,其中该电子产品系耦接至一交 流电源,而该电源循环周期测试装置包括: 一控制单元,适于输出一电源键模拟讯号至该电子 产品,以及输出一控制讯号; 一开关单元,耦接于该控制单元,适于接收该控制 单元所输出之该控制讯号,且该开关单元适于耦接 至该交流电源,并依据该控制讯号而决定该交流电 源的开启与否;以及 一电源供应器,耦接至该控制单元,适于提供该控 制单元一驱动电源。 2.如申请专利范围第1项所述之电源循环周期测试 装置,其中该控制单元为单晶片型态。 3.如申请专利范围第1项所述之电源循环周期测试 装置,其中该控制单元包括一微控制器。 4.如申请专利范围第3项所述之电源循环周期测试 装置,其中该微控制器为一可程式微控制器。 5.如申请专利范围第3项所述之电源循环周期测试 装置,其中该微控制器为一8051微控制器。 6.如申请专利范围第1项所述之电源循环周期测试 装置,其中该开关单元包括一继电器。 7.如申请专利范围第6项所述之电源循环周期测试 装置,其中该继电器为一固态继电器。 8.一种电源循环周期测试方法,适于测试一电子产 品之电源循环周期,该电源循环周期测试方法包括 : (a)输入一交流电压讯号以及一电源键模拟讯号至 该电子产品; (b)停止输出该交流电压讯号与该电源键模拟讯号; 以及 (c)重复执行步骤(a)至步骤(b)。 9.如申请专利范围第8项所述之电源循环周期测试 方法,其中该电源键模拟讯号与该交流电压讯号系 同时输出至该电子产品。 10.如申请专利范围第8项所述之电源循环周期测试 方法,其中在步骤(b)中系同时停止输入该电源键模 拟讯号与该交流电压讯号。 11.如申请专利范围第8项所述之电源循环周期测试 方法,其中该电子产品具有ATX规格之电源,且输入 该电源键模拟讯号至该电子产品的步骤包括在输 入该交流电压讯号后,于一第一时序输入一第一脉 冲讯号,以模拟手动按下电源键之开机动作。 12.如申请专利范围第8项所述之电源循环周期测试 方法,其中该电子产品具有ATX规格之电源,且停止 输入该电源键模拟讯号至该电子产品的步骤包括 在停止输入该交流电压讯号前,于一第二时序输入 一第二脉冲讯号,以模拟手动按下电源键之关机动 作。 图式简单说明: 图1绘示为本发明之实施例中电源循环周期测试装 置的方块示意图。 图2绘示为本发明之实施例中电源循环周期测试方 法的实施步骤流程图。 图3绘示为本发明之实施例中电源键模拟讯号PBSS 以及交流电压讯号ACVS的讯号波形示意图。 |
