发明名称 可侦测及遏阻受测者造假之非认知类测验编制方法
摘要 本发明系揭露一种可侦测及遏阻受测者造假之非认知类测验编制方法,以性格测验为例,其系在性格测验题本上备有第一部分试题之强迫选择题,以及第二部分试题之李克特式(Likert)量尺试题,其中将原本Likert量尺的性格测验中,把求职者最可能造假(即社会赞许值最高)的一些试题挑选出来(选择社会赞许值相当、且原始分数平均值相近的两个题目配对成一道强迫选择题),然后将配对成多道强迫选择题放在第一部分试题中。令受测者先做强迫选择题而据实填答,然后再比对受测者后来填答相同Likert量尺试题的结果,以检核作答是否前后一致。因此,本发明可遏阻求职者的测验造假情况,进而提高甄选测验准确测出求职者性格的程度。
申请公布号 TWI280530 申请公布日期 2007.05.01
申请号 TW094128080 申请日期 2005.08.17
申请人 一零四资讯科技股份有限公司 发明人 林正山
分类号 G09B19/00(2006.01) 主分类号 G09B19/00(2006.01)
代理机构 代理人 林火泉 台北市大安区忠孝东路4段311号12楼之1
主权项 1.一种可侦测及遏阻受测者造假之非认知类测验 编制方法,包括: 提供一非认知类测验题本,其上具有复数强迫选择 题作为第一部分试题,并有复数李克特式(Likert)量 尺试题作为第二部分试题,其中至少有部份该强迫 选择题系选自该Likert量尺试题配对组成者,并将该 第一部分试题与第二部分试题储放于一资料库; 该受测者先填答该些第一部分试题之强迫选择题, 以强迫个人据实填答,并将填答资料储存至一第一 记忆体装置; 该受测者再填写该些第二部分试题,使该受测者根 据该试题之描述选择符合的程度,并将填答资料储 存至一第二记忆体装置;以及 根据该第一部分试题之强迫选择题填答资料与该 第二部分试题之Likert量尺试题填答资料进行比对, 以计算前后填答资料不一致之题数。 2.如申请专利范围第1项所述之可侦测及遏阻受测 者造假之非认知类测验编制方法,其中在该非认知 类测验本上的第一部分试题与第二部分试题之前, 更包括有一测验指导语,以警告有测谎机制。 3.如申请专利范围第1项所述之可侦测及遏阻受测 者造假之性格测验编制方法,其中在该第二试题中 系包含有社会赞许试题。 4.如申请专利范围第1项所述之可侦测及遏阻受测 者造假之非认知类测验编制方法,其中在该第二部 分试题之Likert量尺试题中,受测者最可能造假的一 些试题挑选出来,两两配对作为该强迫选择题而组 成该第一部分试题中。 5.如申请专利范围第1项所述之可侦测及遏阻受测 者造假之非认知类测验编制方法,其中该第一记忆 体装置与该第二记忆体装置系可为相同记忆体装 置。 6.如申请专利范围第1项所述之可侦测及遏阻受测 者造假之非认知类测验编制方法,其中在进行比对 时,如在该强迫选择题时,在第一描述与第二描述 之间系选择该第一描述时,但在填答该Likert量尺时 却发生选该第二描述之程度大于该第一描述,即表 示此为前后填答资料不一致之题数目。 7.如申请专利范围第6项所述之可侦测及遏阻受测 者造假之非认知类测验编制方法,其中该不一致之 题目数愈多,表示造假机率愈高,测验结果愈不可 信。 8.如申请专利范围第1项所述之可侦测及遏阻受测 者造假之非认知类测验编制方法,更包括可设定受 测者之作答时限,且送出后无法回去修改。 9.如申请专利范围第1项所述之可侦测及遏阻受测 者造假之非认知类测验编制方法,其中该性格测验 本系为一电脑试验。 10.如申请专利范围第1项所述之可侦测及遏阻受测 者造假之非认知类测验编制方法,其中该非认知类 测验题本系可为性格、兴趣、态度、价値观、自 我观念或适应行为等测验题本。 图式简单说明: 第一图为本发明之流程示意图。 第二图为本发明编制之性格测验题本示意图。
地址 台北县新店市宝中路119之1号10楼