发明名称 晶圆级封装之制法
摘要 一种晶圆级封装之制法,可达到减少爆米花现象,避免晶片出现结构破坏,以及缩短制造时间,减少整体制造成本的目的;该制法首先系于一晶圆之表面设置多数呈矩阵状排列之接点,各接点电性连通于晶圆之各晶片的电极,接着在各接点设一导电体,并以模压加工之方式于晶圆具有该等导电体之表面设一覆盖层,然后研磨覆盖层,使各导电体露出覆盖层之表面即可完成。
申请公布号 TW200717669 申请公布日期 2007.05.01
申请号 TW094137512 申请日期 2005.10.26
申请人 菱生精密工业股份有限公司 发明人 吴修辉
分类号 H01L21/56(2006.01);H01L23/28(2006.01) 主分类号 H01L21/56(2006.01)
代理机构 代理人 刘緖伦
主权项
地址 台中县潭子乡台中加工出口区南二路5之1号