发明名称 | 晶圆级封装之制法 | ||
摘要 | 一种晶圆级封装之制法,可达到减少爆米花现象,避免晶片出现结构破坏,以及缩短制造时间,减少整体制造成本的目的;该制法首先系于一晶圆之表面设置多数呈矩阵状排列之接点,各接点电性连通于晶圆之各晶片的电极,接着在各接点设一导电体,并以模压加工之方式于晶圆具有该等导电体之表面设一覆盖层,然后研磨覆盖层,使各导电体露出覆盖层之表面即可完成。 | ||
申请公布号 | TW200717669 | 申请公布日期 | 2007.05.01 |
申请号 | TW094137512 | 申请日期 | 2005.10.26 |
申请人 | 菱生精密工业股份有限公司 | 发明人 | 吴修辉 |
分类号 | H01L21/56(2006.01);H01L23/28(2006.01) | 主分类号 | H01L21/56(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 刘緖伦 | |
主权项 | |||
地址 | 台中县潭子乡台中加工出口区南二路5之1号 |