发明名称 电性测试装置、介面结构及其伸缩簧针
摘要 一种介面结构,应用于电子元件之电性测试,其包括一架体以及至少一伸缩簧针。架体具有至少一贯孔,其包括一第一端部、一第二端部以及一中间部分。中间部分位于第一端部与第二端部之间,并且中间部分的孔径大于第一端部孔径与第二端部的孔径。伸缩簧针包括一本体以及至少一翼片。本体具有相对两端,并且经由贯孔贯穿架体。翼片位于中间部分内,并且位于本体上。翼片向本体之一端延伸且逐渐远离本体,其中翼片适于卡扣于第一端部与第二端部之间,并且适于受一外力而沿单一方向移动。
申请公布号 TWI280370 申请公布日期 2007.05.01
申请号 TW095110653 申请日期 2006.03.28
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 余玉龙
分类号 G01R1/067(2006.01);G01R1/14(2006.01) 主分类号 G01R1/067(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种伸缩簧针,其包括: 一本体,其包括: 一套筒,具有彼此相对的一封闭端与一开放端; 一弹性体,位于该套筒内,该弹性体具有彼此相对 的两端,并且该弹性体之一端固定于该套筒内;以 及 一导电柱,经由该开放端插入该套筒内,并且与该 弹性体之另一端连接;以及 至少一翼片,位于该本体上,该翼片向该本体之一 端延伸且逐渐远离该本体。 2.如申请专利范围第1项所述之伸缩簧针,其中该翼 片位于该套筒上,并且向该封闭端延伸。 3.如申请专利范围第1项所述之伸缩簧针,其中该翼 片位于该套筒上,并且该翼片的侧面宽度是朝向该 封闭端方向而增加。 4.如申请专利范围第1项所述之伸缩簧针,其中该翼 片位于该套筒上,并且该翼片与该导电柱的距离是 朝向该封闭端方向而增加。 5.如申请专利范围第1项所述之伸缩簧针,其中该翼 片位于该套筒上,并且向该开放端延伸。 6.如申请专利范围第1项所述之伸缩簧针,其中该翼 片位于该套筒上,并且该翼片的侧面宽度是朝向该 开放端方向而增加。 7.如申请专利范围第1项所述之伸缩簧针,其中该翼 片位于该套筒上,并且该翼片与该导电柱的距离是 朝向该开放端方向而增加。 8.如申请专利范围第1项所述之伸缩簧针,其中该套 筒具有至少一开口,该开口适于容纳该翼片。 9.如申请专利范围第1项所述之伸缩簧针,其中该弹 性体是一弹簧。 10.如申请专利范围第1项所述之伸缩簧针,其中该 导电柱是一针状柱体。 11.一种介面结构,其包括: 一架体,具有至少一贯孔,该贯孔包括一第一端部 、一第二端部以及一中间部分,该中间部分位于该 第一端部与该第二端部之间,并且该中间部分的孔 径大于该第一端部与该第二端部的孔径;以及 至少一伸缩簧针,经由该贯孔贯穿该架体,该伸缩 簧针包括: 一本体,其包括: 一套筒,具有彼此相对的一封闭端与一开放端; 一弹性体,位于该套筒内,该弹性体具有彼此相对 的两端,并且该弹性体之一端固定于该套筒内;以 及 一导电柱,经由该开放端插入该套筒内,并且与该 弹性体之另一端连接;以及 至少一翼片,位于该中间部分内,该翼片位于该本 体上,并向该本体之一端延伸且逐渐远离该本体, 其中该翼片适于卡扣于该贯孔之该第一端部与该 第二端部之间,并且适于受一外力而沿单一方向移 动。 12.如申请专利范围第11项所述之介面结构,该架体 包括: 一下组件,具有至少一第一开口以及至少一第二开 口,其中该第二开口位于该第一开口上方,并与该 第一开口相连通,且该第二开口大于该第一开口; 一上组件,位于该下架体上,具有一第三开口,其中 该第二开口位于该第一开口与该第三开口之间,并 该第三开口与该第二开口相连通,且该第二开口大 于该第三开口,该第一开口、第二开口与该第三开 口共同形成该贯孔。 13.如申请专利范围第11项所述之介面结构,其中该 翼片是配置于该套筒上,并且向该封闭端延伸。 14.如申请专利范围第11项所述之介面结构,其中该 翼片是配置于该套筒上,并且该翼片的侧面宽度是 朝向该封闭端方向而增加。 15.如申请专利范围第11项所述之介面结构,其中该 翼片是配置于该套筒上,并且该翼片与该导电柱的 距离是朝向该封闭端方向而增加。 16.如申请专利范围第11项所述之介面结构,其中该 翼片是配置于该套筒上,并且向该开放端延伸。 17.如申请专利范围第11项所述之介面结构,其中该 翼片是配置于该套筒上,并且该翼片的侧面宽度是 朝向该开放端方向而增加。 18.如申请专利范围第11项所述之介面结构,其中该 翼片是配置于该套筒上,并且该翼片与该导电柱的 距离是朝向该开放端方向而增加。 19.如申请专利范围第11项所述之介面结构,其中该 套筒具有至少一开口,适于容纳该翼片。 20.如申请专利范围第11项所述之介面结构,其中该 弹性体是一弹簧。 21.如申请专利范围第11项所述之介面结构,其中该 导电柱是一针状柱体。 22.一种电性测试装置,其包括: 一架体,具有至少一贯孔,该贯孔包括一第一端部 、一第二端部以及一中间部分,该中间部分位于第 一端部与第二端部之间,并且该中间部分的孔径大 于该第一端部与该第二端部的孔径; 至少一伸缩簧针,经由该贯孔贯穿该架体,该伸缩 簧针包括: 一本体,其包括: 一套筒,具有彼此相对的一封闭端与一开放端; 一弹性体,位于该套筒内,该弹性体具有彼此相对 的两端,并且该弹性体之一端固定于该套筒内;以 及 一导电柱,经由该开放端插入该套筒内,并且与该 弹性体之另一端连接;以及 至少一翼片,位于该中间部分内,该翼片位于该本 体上,并向该本体之一端延伸且逐渐远离该本体, 其中该翼片适于卡扣于该贯孔之该第一端部与该 第二端部之间,并且适于受一外力而沿单一方向移 动;以及 一测试电路板,电性连接于该伸缩簧针之一端。 23.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,该 架体包括: 一下组件,具有至少一第一开口以及至少一第二开 口,其中该第二开口位于该第一开口上方,并与该 第一开口相连通,且该第二开口大于该第一开口; 一上组件,位于该下架体上,具有一第三开口,其中 该第二开口位于该第一开口与该第三开口之间,并 该第三开口与该第二开口相连通,且该第二开口大 于该第三开口,该第一开口、第二开口与该第三开 口共同形成该贯孔。 24.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,其 中该翼片是配置于该套筒上,并且向该封闭端延伸 。 25.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,其 中该翼片是配置于该套筒上,并且该翼片的侧面宽 度是朝向该封闭端方向而增加。 26.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,其 中该翼片是配置于该套筒上,并且该翼片与该导电 柱的距离是朝向该封闭端方向而增加。 27.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,其 中该翼片是配置于该套筒上,并且向该开放端延伸 。 28.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,其 中该翼片是配置于该套筒上,并且该翼片的侧面宽 度是朝向该开放端方向而增加。 29.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,其 中该翼片是配置于该套筒上,并且该翼片与该导电 柱的距离是朝向该开放端方向而增加。 30.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,其 中该套筒具有至少一开口,适于容纳该翼片。 31.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,其 中该弹性体是一弹簧。 32.如申请专利范围第22项所述之电性测试装置,其 中该导电柱是一针状柱体。 图式简单说明: 图1是习知之介面结构的示意图。 图2是本发明一实施例之伸缩簧针的示意图。 图3是本发明一实施例之介面结构的示意图。 图4是本发明一实施例之电性测试装置的示意图。
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