发明名称 孔垂直度微力测量装置
摘要 本发明公开一种孔的垂直度微力测量装置,在孔径微力测量装置的基础上增加了待测物移动的测量装置。即在夹具下方设置可在X方向和Y方向微力移动的滑台,通过位移感应器反馈待测物在X方向和Y方向相对于原点的位移量,并设置气缸,在一次测量完成后使夹具回复原位。本发明结构简单,成本低,可以准确地提供待计算孔垂直度所需要的数据。
申请公布号 CN101354235A 申请公布日期 2009.01.28
申请号 CN200810216018.X 申请日期 2008.09.09
申请人 福群电子(深圳)有限公司 发明人 李振旗;包万红;吕艳坤;陈珏然
分类号 G01B7/305(2006.01);G01B7/004(2006.01) 主分类号 G01B7/305(2006.01)
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 代理人 曾旻辉
主权项 1.一种孔垂直度微力测量装置,其特征在于:包括:测量机构,其包括三根探针及位移测量器,所述三根探针用于与待测物的圆孔的内壁接触并产生电信号,所述位移测量器用于测量探针的位置;X-Y移动台,用于安置待测物并测量待测物的移动量;控制模块,与所述测量机构及X-Y移动台连接,并在接收到所述电信号后根据所述探针的位置及所述待测物的移动量计算所述待测物的圆孔的圆心位置,并控制所述测量机构测量所述待测物的圆孔的不同位置的圆心位置以计算垂直度。
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