发明名称 |
一种平面叶片面积无损测量系统及其方法 |
摘要 |
本发明涉及平面面积测量技术领域,特别是一种使用单幅图像,进行平面叶片面积无损测量的系统及其方法。系统包括:图像采集单元,图像校正单元,叶片图像分割单元,叶片面积计算单元。方法包括:通过图像采集单元得到附着在标定板上的平面叶片图像;图像校正单元根据图像和标定板上的同名点,计算出图像上的像素和实际物体的射影对应关系,并且对图像进行正射校正;叶片图像分割单元将叶片的图像从背景中分离出来;叶片面积计算单元根据射影对应关系,计算出正射校正后的叶片图像的面积。 |
申请公布号 |
CN1952599A |
申请公布日期 |
2007.04.25 |
申请号 |
CN200510086647.1 |
申请日期 |
2005.10.20 |
申请人 |
中国科学院自动化研究所 |
发明人 |
滕军;胡包钢 |
分类号 |
G01B21/28(2006.01);G01B11/28(2006.01) |
主分类号 |
G01B21/28(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
段成云 |
主权项 |
1、一种平面叶片面积无损测量系统,其特征在于:该系统包括图像采集单元,图像校正单元,叶片图像分割单元,叶片面积计算单元,通过图像采集单元得到附着在标定板上的平面叶片图像,图像校正单元根据图像和标定板上的同名点,计算出图像上的像素和实际物体的射影对应关系,叶片图像分割单元将叶片的图像从背景中分离出来,叶片面积计算单元根据射影对应关系,计算出正射校正后的叶片图像的面积,图像采集模块由标定板、相机、相机控制软件模块组成,图像校正单元、叶片图像分割单元、叶片面积计算单元为软件模块,集成在一个单元,其中,图像采集单元,图像校正单元,叶片图像分割单元,叶片面积计算单元,上述单元依次顺序连接。 |
地址 |
100080北京市海淀区中关村东路95号 |