发明名称 同质复合栅场效应晶体管
摘要 同质复合栅场效应晶体管,由栅端、源端、漏端和衬底构成场效应晶体管本体,在栅端与衬底之间为绝缘层,沟道形成在源端与漏端之间衬底上,源端在沟道左端延伸为浅源延伸区,漏端在沟道右端延伸为浅漏延伸区;其特征是栅端设置为同质复合栅,多晶硅栅,多晶硅栅的左右两部分分设为不同的导电类型,朝向源端的栅左部为P型多晶硅栅,朝向漏端的栅右部为N型多晶硅栅。本发明既可以得到很高的射频MOSFET驱动电流、跨导和截止频率,同时器件漏漂移区末端的最大场强、热电子效应和短沟道效应又可以得到很大的缓解。
申请公布号 CN1953206A 申请公布日期 2007.04.25
申请号 CN200610097014.5 申请日期 2006.10.27
申请人 安徽大学 发明人 陈军宁;柯导明;徐超;代月花;高珊;孟坚;吴秀龙
分类号 H01L29/772(2006.01);H01L29/78(2006.01);H01L29/808(2006.01);H01L29/49(2006.01) 主分类号 H01L29/772(2006.01)
代理机构 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 代理人 何梅生
主权项 1、一种同质复合栅场效应晶体管,由栅端、源端(1)、漏端(2)和衬底(3)构成的场效应晶体管本体,所述源端(1)和漏端(2)分设于衬底(3)的左右两端,所述栅端位于源端(1)和漏端(2)之间的衬底(3)的上方,在栅端与衬底(3)之间为绝缘层(4),沟道(7)形成在源端(1)与漏端(2)之间的衬底(3)上,所述源端(1)在沟道的左端延伸为浅源延伸区(8),所述漏端(2)在沟道的右端延伸为浅漏延伸区(9);其特征是所述栅端设置为同质复合栅,所述同质复合栅为多晶硅栅,多晶硅栅的左右两部分分设为不同的导电类型,包括,朝向源端(1)的栅左部为P型多晶硅栅(5),朝向漏端(2)的栅右部为N型多晶硅栅(6),P型多晶硅栅(5)与N型多晶硅栅(6)相接处形成分界面(10)。
地址 230039安徽省合肥市肥西路3号