发明名称 画像显示装置及其驱动方法
摘要 【课题】本发明系用以解决因寄生电容所造成之亮度不均一。【解决手段】系构成为具备有:依通电而发光之有机EL元件OLED;驱动电晶体Td,具备闸极(第1端子)、汲极(第2端子)及源极,且因应比施加在闸极和源极之间的规定之临限值值还高的电位差而控制有机EL素子OLED;用以检测与驱动电晶体Td之闸极和汲极之间的驱动临限值相对应之临限值电压的临限值电压检测用电晶体Tth;以及与驱动电晶体Td连接之可变容量Cc。
申请公布号 TWI279748 申请公布日期 2007.04.21
申请号 TW094129604 申请日期 2005.08.30
申请人 京瓷股份有限公司 发明人 高杉亲知;草深薰
分类号 G09F9/00(2006.01);G09G3/00(2006.01);H01L29/04(2006.01) 主分类号 G09F9/00(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;何秋远 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 1.一种画像显示装置,其特征为具备:依通电而发光 之发光手段;至少具备第1端子和第2端子,且因应比 在前述第1端子和前述第2端子之间所施加之规定 的驱动临限値还高的电位差而控制前述发光手段 的发光之驱动手段;用以检测与前述驱动手段之前 述第1端子和前述第2端子间之前述驱动临限値对 应的临限値电压之临限値电压检测手段;与前述驱 动手段连接之电容可变手段。 2.如申请专利范围第1项之画像显示装置,其中 前述电容可变手段之电容値系因应存在于前述驱 动手段的端子间之寄生电容、及存在于前述临限 値电压检测手段所具有的端子间之寄生电容的大 小而被决定该値。 3.如申请专利范围第1项之画像显示装置,其中 被连接在前述临限値电压检测手段之选择信号线 和被连接在该选择信号线之控制信号线系至少一 部份被共用。 4.如申请专利范围第1项之画像显示装置,其中 前述电容可变手段系为包含有薄膜电晶体及与该 薄膜电晶体连接之电容元件的连接回路,该连接回 路之一端被连接至前述驱动手段。 5.如申请专利范围第1项之画像显示装置,其中 前述电容可变手段系为可变电容元件,其具备第1 电极、和较该第1电极还小面积的第2电极、以及 在前述第1电极和前述第2电极之间所配置之绝缘 层及通道层。 6.如申请专利范围第5项之画像显示装置,其中 前述通道层系与前述第2电极接触。 7.如申请专利范围第5项之画像显示装置,其中 前述驱动手段及/或前述临限値电压检测手段系包 含薄膜电晶体而构成,前述薄膜电晶体的通道层与 前述可变电容元件的通道层系利用相同材料以大 致相等的厚度来形成。 8.如申请专利范围第7项之画像显示装置,其中 前述薄膜电晶体之通道层及/或绝缘层,与前述可 变电容元件之通道层及/或绝缘层系以同一工程所 形成。 9.如申请专利范围第5项之画像显示装置,其中 前述驱动手段及/或前述临限値电压检测手段系包 含薄膜电晶体而构成,前述薄膜电晶体的绝缘层与 前述可变电容元件的绝缘层系利用相同的材料以 大致相等的厚度来形成。 10.如申请专利范围第9项之画像显示装置,其中 前述薄膜电晶体之绝缘层与前述可变电容元件之 绝缘层系以同一工程所形成。 11.一种画像显示装置,其特征为使用有可变电容元 件,而其具备:第1电极;配置在该第1电极上之绝缘 层;配置在该绝缘层上之通道层;配置在该通道层 上且为比前述第1电极面积还小的第2电极。 12.如申请专利范围第11项之画像显示装置,其中 前述通道层之导电性系因应前述第1电极与前述第 2电极之间的电位差而变化。 13.一种画像显示装置之驱动方法,该画像显示装置 具备:依通电而发光之发光元件;具有闸极电极、 源极电极及汲极电极而前述源极电极及前述汲极 电极中任一方的电极被电气连接于前述发光元件 之驱动电晶体;和因应扫描信号而将前述驱动电晶 体的前述闸极电极和前述驱动电晶体之前述一方 的电极短路之开关电晶体;以及被连接至前述驱动 电晶体的闸极电极之电容可变手段;且 该画像显示装置之驱动方法的特征为 包含有:第1工程,将前述驱动电晶体及前述开关电 晶体设定为导通,依此而透过前述开关电晶体将前 述驱动电晶体的闸极电极和前述驱动电晶体的前 述源极电极及前述汲极电极当中之他方的电极作 电气连接,将前述闸极电极相对于前述驱动电晶体 之前述他方的电极之电位设为驱动临限値;第2工 程,将前述驱动电晶体设定成截止同时将前述开关 电晶体设定成导通,依此而将前述发光元件之亮度 电位供给至前述驱动电晶体的闸极电极;第3工程, 将前述驱动电晶体设定成导通,同时将前述开关电 晶体设定成截止,依此而对前述发光元件进行通电 并依据被供给至前述驱动电晶体的闸极电极之前 述亮度电位而使前述发光元件发光;及 藉由使第1工程中的前述电容可变手段之电容値和 第3工程中的前述电容可变手段之电容値互异以抑 制前述驱动电晶体及前述开关电晶体的寄生电容 对前述发光元件之发光亮度的影响,其中第1工程 系将前述闸极电极相对于前述驱动电晶体之前述 他方的电极之电位设为驱动临限値,而第3工程系 使前述发光元件发光。 14.如申请专利范围第13项之画像显示装置之驱动 方法,其中、前述电容可变手段的电容値在第1工 程中系比在第3工程还大,其中第3工程系使前述发 光元件发光,而第1工程系将前述闸极电极相对于 前述驱动电晶体之前述他方的电极之电位设为驱 动临限値。 15.如申请专利范围第13项之画像显示装置之驱动 方法,其中、前述电容可变手段的电容値在第1工 程中呈大致一定,而该第1工程系将前述闸极电极 相对于前述驱动电晶体之前述他方的电极之电位 设为驱动临限値。 16.如申请专利范围第13项之画像显示装置之驱动 方法,其中、前述电容可变手段的电容値在使前述 发光元件发光的第3工程中系大致呈一定。 17.如申请专利范围第13项之画像显示装置之驱动 方法,其中、前述电容可变手段的电容値系于将前 述发光元件的亮度电位供给至前述驱动电晶体的 闸极电极之第2工程与使前述发光元件发光之第3 工程间作变化。 图式简单说明: 【第1图】系显示本发明之实施形态1所涉及的画 像显示装置之与1画素相对应之画素电路的构成之 图。 【第2图】系显示第1图所示的薄膜电晶体TFT之构 成的剖面图。 【第3-1图】系显示第1图所示之可变电容Cc的构成 之概略平面图。 【第3-2图】系显示第1图所示之可变电容Cc的构成 之X-X线视剖面图。 【第4图】系显示第1图及第3-1图、第3-2图所示的 可变电容Cc之每单位面积的电容变化之图表。 【第5图】系用以说明实施形态1的动作之时间图 。 【第6图】系用以说明第5图所示的准备期间之动 作图。 【第7图】系用以说明第5图所示的临限値电压检 测期间之动作图。 【第8图】系用以说明第5图所示的写入期间之动 作图。 【第9图】系用以说明第5图所示的发光期间之动 作图。 【第10图】系显示本发明之实施形态2所涉及的画 像显示装置之与1画素相对应的画素电路之构成图 。 【第11图】系显示电流控制型的画像显示装置之 与1画素相对应的画素电路之构成图。 【第12图】系显示本发明之实施形态3所涉及的画 像显示装置之与1画素相对应的画素电路之构成图 。 【第13图】系显示本发明之实施形态4所涉及的电 容可变手段之构成图。 【第14图】系显示适用第13图的电容可变手段之实 施形态4所涉及的画像显示装置之与1画素相对应 之画素电路的构成图。 【第15图】系显示Tc控制线的驱动波形之时间图。 【第16图】系显示Tth控制线11和Tc控制线50共用共 通之Tth/Tc控制线55的画素电路之构成例图。 【第17图】系显示以往的画像显示装置之与1画素 相对应之画素电路的构成图。 【第18图】系显示在第17图所示画素电路存在之寄 生电容等的图。 【第19图】系显示本发明之实施形态5所涉及的电 容可变手段之构成图。 【第20图】系显示适用第19图之电容可变手段的实 施形态5所涉及的画像显示装置之与1画素相对应 的画素电路之构成图。 【第21图】系显示第1Tc控制线及第2Tc控制线的驱 动波形之时间图。 【第22图】系显示第1Tth控制线61及第2Tth控制线62 和Tc控制线50共用共通之Tth/Tc控制线65的画素电路 之构成例图。
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