| 发明名称 | 集成电路测试器 | ||
| 摘要 | 本发明的目的在于实现即使对于被测试对象供给或抽取电流，亦可正确地进行测试的集成电路测试器。本发明是对于用以测试被测试对象的集成电路测试器加以改进。本装置具备：电流单元，在被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取；以及测定单元，进行被测试对象输出引线的电压测定，依照被测试对象的输出电阻值及电流单元的电流值加以修正。 | ||
| 申请公布号 | CN1948982A | 申请公布日期 | 2007.04.18 |
| 申请号 | CN200610136101.7 | 申请日期 | 2006.10.11 |
| 申请人 | 横河电机株式会社 | 发明人 | 永沼英树 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01);G09G3/00(2006.01);G09G3/36(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 蒲迈文;黄小临 |
| 主权项 | 1.一种集成电路测试器，用以对被测试对象进行测试，包含：a)电流单元，对于该被测试对象的输出引线进行电流的供给或抽取；以及b)测定单元，进行该被测试对象的输出引线的输出的电压测定，依照该被测试对象的输出电阻值与该电流单元的电流值加以修正。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||