发明名称 用于扫描刻度体的扫描单元
摘要 本发明涉及一种用于扫描刻度体的扫描单元,该刻度体具有一个由测量刻度构成的、尤其是微差痕迹形式的编码痕迹,除了这个编码痕迹还具有一个基准标记结构,该扫描单元具有一个用于扫描编码痕迹的检测装置和另一个用于扫描基准标记结构的检测装置,其中这另一检测装置在扫描基准标记结构时在一个信号敏感表面上接收扫描信号并且这另一检测装置具有至少两个传感器,在扫描单元运行时这两个传感器中只有一个传感器用于扫描基准标记结构。按照本发明,所述两个传感器(11,12)中的每一个都接通在一个差分放大器的两个输入端中的一个输入端上而不用于扫描的传感器通过遮盖其信号敏感表面而无效。
申请公布号 CN1311222C 申请公布日期 2007.04.18
申请号 CN200410007644.X 申请日期 2004.02.27
申请人 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 发明人 H·毛尔伯格;S·通多夫
分类号 G01B21/00(2006.01) 主分类号 G01B21/00(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 苏娟;赵辛
主权项 1.一种用于扫描刻度体的扫描单元,该刻度体具有一个由测量刻度构成的编码迹线,除了这个编码迹线还具有一个基准标记结构,该扫描单元具有一个用于扫描编码迹线的检测装置和另一个用于扫描基准标记结构的检测装置,其中这另一检测装置在扫描基准标记结构时在一个信号敏感表面上接收扫描信号,为此包括至少两个传感器,在扫描单元运行时两个传感器中只有一个用于扫描基准标记结构,其特征在于,所述两个传感器(11,12)中的每一个都连接在一个差分放大器(2)的两个输入端(21,22)中的一个上而不用于扫描的传感器(12,11)通过遮盖其信号敏感表面(12a,11a)而无效。
地址 联邦德国特劳恩罗伊特