发明名称 只读存储器及其制造方法
摘要 本发明提供一种只读存储器及其制造方法。第一种程序化方法通过电压Vt注入和氧化法来调整只读存储单元的阈值电压,以得到四阶只读存储器。第一种和第二种ROM编码分别具有阈值电压Vt<SUB>1</SUB>和Vt<SUB>2</SUB>,分别进行一道和两道电压Vt注入制作过程及形成薄栅极氧化层。第三种和第四种ROM编码分别具有阈值电压Vt<SUB>3</SUB>和Vt<SUB>4</SUB>,分别进行一道和两道电压Vt注入制作过程及形成厚栅极氧化层。第二种程序化方法通过接触窗控制只读存储单元是否连接至位线,得到不会有注入编码偏移问题的二阶只读存储器。另外,上述两种程序化方法可以组合,这样每一只读存储单元拥有五种ROM编码可选择。
申请公布号 CN1311556C 申请公布日期 2007.04.18
申请号 CN03155354.0 申请日期 2003.08.27
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 陈盈佐;黄仲仁
分类号 H01L27/112(2006.01);H01L27/115(2006.01);H01L21/8246(2006.01);H01L21/8247(2006.01) 主分类号 H01L27/112(2006.01)
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 潘培坤;楼仙英
主权项 1.一种只读存储器,其特征在于,包括:基底;至少一个第一阱区及第二阱区,设置于该基底上,该第一阱区及该第二阱区分别用于进行第一Vt调整制作过程和第二Vt调整制作过程;以及薄栅极氧化层及厚栅极氧化层,分别覆盖至少一个进行过该第一Vt调整制作过程的第一阱区及至少一个进行过该第二Vt调整制作过程的第二阱区,使该只读存储器具有至少第一阈值电压、第二阈值电压、第三阈值电压及第四阈值电压。
地址 台湾省新竹