发明名称 使用荧光聚合物的消耗速率控制冷却水系统
摘要 本发明描述和要求了根据荧光聚合物的消耗速率控制冷却水系统的方法。
申请公布号 CN1950304A 申请公布日期 2007.04.18
申请号 CN200580013686.7 申请日期 2005.04.25
申请人 纳尔科公司 发明人 B·E·莫里亚蒂;N·M·劳;K·熊;T-Y·陈;S·杨;M·查特拉基
分类号 C02F5/10(2006.01) 主分类号 C02F5/10(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 沙捷
主权项 1.控制冷却水系统的单转鼓方法,其包括如下步骤:(1)测定冷却水系统的水中荧光聚合物的消耗速率,其中使用Fouling指数方程,或Scale指数方程或Tower Scale指数方程在获取时间周期期间以不连续间隔计算消耗速率,其包括如下步骤:a)提供冷却水系统;b)提供水处理产品,(i)其中所述的水处理产品包括至少一种荧光聚合物,至少一种惰性荧光示踪剂和任选地其它水处理化学品,(ii)其中在所述的水处理产品中所述的荧光聚合物与水处理产品中所有其它成分的比例是已知的,(iii)其中在所述的水处理产品中所述的惰性荧光示踪剂对水处理产品中所有其它成分的比例是已知的,(iv)其中所述的荧光聚合物和所述的惰性荧光示踪剂两者都具有可检测的荧光信号,所述的荧光聚合物可检测的荧光信号与所述的惰性荧光示踪剂可检测的荧光信号相比不同,使得惰性荧光示踪剂和荧光聚合物两者的荧光信号都可以在相同冷却水系统的水中被检测到;c)将所述的水处理产品加入所述的冷却水系统的水中,(i)其中所述的水处理产品以不连续的方式加入至水中,和(ii)其中在加入每个数量的水处理产品之间经过不连续的时间间隔;d)提供一个或多个荧光计;e)使用所述的一个或多个荧光计测量来自冷却水系统的水中所述惰性荧光示踪剂的荧光信号和所述荧光聚合物的荧光信号,其中步骤g)的计算中所用的测量在每次向所述的冷却水系统的水中新加入水处理产品之间的时间间隔期间进行;f)使用由步骤e)测得的荧光信号确定所述冷却水的水中存在的荧光聚合物的浓度和惰性荧光示踪剂的浓度,g)以不连续的间隔重复步骤e)和f),以便通过使用选自Fouling指数方程,Scale指数方程,和Tower Scale指数方程的公式计算在获取时间周期的间隔期荧光聚合物的消耗速率,其计算如下:(i)FIL=[A/(tlf-tl0)]×[ln{LIT(f)/LIT(0)}-ln{LTP(f)/LTP(0)}];其中FIL是获取时间周期期间的时间间隔内计算的Fouling指数,A是常数=1,tlf=间隔结束时的时间,tl0=间隔开始时的时间,LIT(0)=间隔开始时惰性荧光示踪剂的浓度;LIT(f)=间隔结束时惰性荧光示踪剂的浓度;LTP(0)=间隔开始时荧光聚合物的浓度;LTP(f)=间隔结束时荧光聚合物的浓度;或(ii)SIL=[{B×LTP(0)}/间隔时间]×[LIT(t)/LIT(0)-LTP(t)/LTP(0)];其中SIL是获取时间周期期间的时间间隔内计算的Scale指数,B是常数=1,000,000或100,000;间隔时间是当进行测量时以分钟为单位的不连续时间间隔的时间,LTP(0)是在间隔开始时的荧光聚合物浓度,LIT(0)是在间隔开始时的惰性荧光示踪剂浓度,LTP(t)是在间隔结束时的荧光聚合物浓度,和LIT(t)是在间隔结束时的惰性荧光示踪剂浓度;或(iii)TSIL=-C×SL(t)×60;其中TSIL是获取时间周期期间的时间间隔计算的Tower Scale指数,C是常数=1,000,000或100,000,SL(t)是以(1/秒)为单位的ln[LTP(t)/LIT(t)]对时间曲线的斜率,其中在获取时间周期期间的时间间隔内计算斜率;(2)通过将在步骤1中计算的所有FIL或所有SIL或所有TSIL加和并除以整个获取时间周期期间FIL或SIL或TSIL的计算次数,计算获取时间周期期间荧光聚合物的平均消耗速率,其中所述的计算得到了计算的FILa或计算的SILa或计算的TSILa,其中所述的FILa是获取时间周期期间的平均Fouling指数,SILa是获取时间周期期间的平均Scale指数,TSILa是获取时间周期期间的平均Tower Scale指数;(3)计算评价时间周期的荧光聚合物消耗速率,其中所述用于计算的测量在每次向所述的冷却水系统的水中新加入水处理产品之间的时间间隔期间进行,其中所述的计算是使用选自评价时间周期的Fouling指数方程,评价时间周期的Scale指数方程,和评价时间周期的TowerScale指数方程的公式完成的,其计算如下:(i)FIE=[A/(tef-te0)]×[ln{EIT(f)/EIT(0)}-ln{ETP(f)/ETP(0)}];其中FIE表示在评价时间周期期间计算的Fouling指数,A是常数=1,tef=在评价周期结束时的时间,te0=在评价周期开始时的时间,EIT(0)=在评价周期开始时惰性荧光示踪剂的浓度;EIT(f)=在评价周期结束时惰性荧光示踪剂的浓度;ETP(0)=在评价周期开始时荧光聚合物的浓度;ETP(f)=在评价周期结束时荧光聚合物的浓度;(ii)SIE=[B×ETP(0)]/评价时间×[EIT(t)/EIT(0)-ETP(t)/ETP(0)];其中SIE是评价时间周期的Scale指数,B是常数=1,000,000或100,000,并被选择成获取时间周期和评价时间周期期间相同;评价时间是以分钟为单位的评价时间,ETP(0)是在评价时间开始时的荧光聚合物浓度,EIT(0)是在评价时间开始时的惰性荧光示踪剂浓度,ETP(t)是在评价时间结束时的荧光聚合物浓度,和EIT(t)是在评价时间结束时的惰性荧光示踪剂浓度;(iii)TSIE=-C×SE(t)×60;其中TSIE是评价周期的Tower Scale指数,C=常数=1,000,000或100,000,在获取时间周期和评价时间周期期间选择是相同的;SE(t)是以(1/秒)为单位的ln[ETP(t)/EIT(t)]对时间曲线的斜率,其中在整个评价时间周期内计算斜率;和4)对于冷却水系统中的水采用如下方式比较评价时间周期期间荧光聚合物的消耗速率与先前测定的步骤(2)中获取时间周期期间荧光聚合物的平均消耗速率;(i)其中如果FIE=FILa,则荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间与获取周期期间相同;如果FIE>FILa,荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间大于获取周期期间;如果FIE<FILa,荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间小于获取周期期间;(ii)其中如果SIE=SILa,则荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间与获取周期期间相同;如果SIE>SILa,荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间大于获取周期期间;如果SIE<SILa,荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间小于获取周期期间;(iii)其中如果TSIE=TSILa,则荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间与获取周期期间相同;如果TSIE>TSILa,荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间大于获取周期期间;如果TSIE<TSILa,荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间小于获取周期期间;(iv)计算NVincent Scale指数或NVincent Tower Scale指数如下:NSI=D×[SIE-SIL]/SIL(SD),NTSI=D×[TSIE-TSIL]/TSIL(SD);其中NSI是NVincent Scale指数,NTSI是NVincent Tower Scale指数,其中D是常数=10;TSIE和SIE和TSIL和SIL如先前所定义,和TSIL(SD)和SIL(SD)分别是在获取时间周期期间计算的TSIL和SIL的标准差;其中如果NSI或NTSI=0,则荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间与获取周期期间相同;如果NSI或NTSI>0,荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间大于获取周期期间;如果NSI或NTSI<0,荧光聚合物的消耗速率在评价周期期间小于获取周期期间;和任选地5)调节所述的冷却水系统的操作参数,以冷却水系统中的水的荧光聚合物的消耗速率保持在所需的荧光聚合物消耗速率。
地址 美国伊利诺斯州