发明名称 |
扫描强力显微镜装置及其用途 |
摘要 |
本发明涉及一种组合方法,其中使用扫描强力显微镜记录样品表面的高分辨率再现,并用质谱测量样品表面的局部高分辨的化学属性(所述属性与再现相关)。在有限的表面区域的激光解吸之后,进行表面的化学分析。为实现此解吸,根据光学近场原理在每个相关的点以脉冲形式照明表面。光学近场原理确保以没有衍射限制的局部解析的分析。所用的测量探针的中空触点可使得对所选的表面区域具有唯一的化学分析配置。高度对称排列使得产生的分子离子良好传输。 |
申请公布号 |
CN1311221C |
申请公布日期 |
2007.04.18 |
申请号 |
CN03822735.5 |
申请日期 |
2003.07.24 |
申请人 |
JPK仪器股份公司 |
发明人 |
德特利夫·克内布尔;马赛厄斯·阿姆赖因 |
分类号 |
G01B7/34(2006.01);G12B21/00(2006.01);G01N27/00(2006.01) |
主分类号 |
G01B7/34(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
张平元;赵仁临 |
主权项 |
1.一种扫描显微装置,其包括限定近场的测量探针,并具有令测量探针相对于样品以全部三个空间方向移动的扫描单元,结合具有离子化单元、吸取单元和分析单元的质谱,其中测量探针具有中空的触点,使得由离子化单元以仅在测量探针近场中形成离子的方式使用测量探针的近场,中空触点提供有用于在测量探针的近场形成的离子的入口开孔,并且测量探针的形状使吸取单元以相对于分析单元的轴具有基本上轴对称的电场分布。 |
地址 |
德国柏林 |