| 发明名称 | 影像光学系统平面分辨率校正方法及其装置 | ||
| 摘要 | 本发明系一种影像光学系统平面分辨率校正方法及其装置，包括一校正样本以及一影像感测装置，该校正样本表面具有明线与暗线相间的直线条纹，该校正样本设置于一待测平面处，一影像感测装置具有影像撷取手段、记忆手段以及逻辑演算手段。藉以执行撷取校正样本影像信息并储存影像信息，同时选择并计算明线条纹之直线方程式，透过直线方程式之直线斜率与截距，且利用截距计算相邻明线之平均距离，最后以几何数学之手段计算影像感测装置所撷取的影像倍率。 | ||
| 申请公布号 | CN1949887A | 申请公布日期 | 2007.04.18 |
| 申请号 | CN200510109003.X | 申请日期 | 2005.10.13 |
| 申请人 | 致茂电子股份有限公司 | 发明人 | 林耀明;张维哲;张宏彰 |
| 分类号 | H04N17/00(2006.01);H04N5/14(2006.01) | 主分类号 | H04N17/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张敬强 |
| 主权项 | 1.一种影像光学系统平面分辨率校正方法，包括下列步骤：提供一校正样本以及一影像感测装置，该校正样本表面具有明线与暗线相间的直线条纹，该校正样本设置于一待测平面处，一影像感测装置具有影像撷取手段、记忆手段以及逻辑演算手段；在影像感测装置的有效感测范围内选择连续排列之数条明线与暗线；透过影像感测装置撷取校正样本影像信息并储存影像信息；透过逻辑演算手段以影像边界判断之影像处理手段，以影像感测装置之像素为参考坐标定义正交之第一轴与第二轴，并计算出所选择之明线条纹的数量以及直线方程式，其中直线方程式系包括直线斜率a以及截距b信息，斜率a系直线在第一轴方向增加单位距离时的第二轴增加量，截距b系直线与第二轴相交位置；透过逻辑演算手段以各个明线直线方程式的截距b，计算相邻明线在第二轴方向上的平均距离Δb；以及透过逻辑演算手段计算影像感测装置所撷取影像倍率为<img file="A2005101090030002C1.GIF" wi="249" he="72" /> | ||
| 地址 | 中国台湾桃园县 | ||