| 发明名称 | 用于使用临时缺陷信息(TDFL)和临时缺陷管理信息(TDDS)来管理盘缺陷的方法和设备 | ||
| 摘要 | 提供了一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括用户数据区和除了用户数据区之外的备用区，该方法包括：将用户数据记录在用户数据区中；将记录在用户数据区的存在缺陷的缺陷区中的用户数据再次记录在备用区中以产生记录在缺陷区中的用户数据的替换数据；和将在用户数据区中最后记录的最后用户数据的地址和在备用区中记录的最后替换数据的地址记录在在盘上的临时缺陷管理区中，该临时缺陷管理区由该设备使用以针对该盘执行盘缺陷管理。本发明还提供了一种使用具有用户数据区和除了用户数据区之外的临时缺陷管理区和备用区的盘的记录和/或再现设备。 | ||
| 申请公布号 | CN1311440C | 申请公布日期 | 2007.04.18 |
| 申请号 | CN03824368.7 | 申请日期 | 2003.09.22 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 黄盛凞;高祯完;李坰根 |
| 分类号 | G11B7/007(2006.01) | 主分类号 | G11B7/007(2006.01) |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 韩明星;李云霞 |
| 主权项 | 1、一种管理在盘中的缺陷的方法，该盘包括用户数据区和除了用户数据区之外的备用区，该方法包括：将用户数据记录在用户数据区中；将记录在用户数据区的存在缺陷的缺陷区中的用户数据再次记录在备用区中以产生记录在缺陷区中的用户数据的替换数据；和将在用户数据区中最后记录的最后用户数据的地址和在备用区中记录的最后替换数据的地址记录在盘上的临时缺陷管理区中，该临时缺陷管理区由该设备使用以针对该盘执行盘缺陷管理。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||