发明名称 |
基于自组装技术的交叉阵列结构有机器件制备方法 |
摘要 |
一种交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法,其工艺步骤如下:1.在基片表面上淀积绝缘薄膜;2.在绝缘薄膜表面上旋涂抗蚀剂,光刻得到下电极图形;3.蒸发、剥离金属得到交叉线下电极;4.旋涂抗蚀剂,光刻得到与下电极交叉的上电极图形;5.蒸发、剥离金属得到上电极;6.液相法自组织生长有机分子材料;7.干法刻蚀多余的有机分子材料,完成交叉线有机分子器件的制备。 |
申请公布号 |
CN1949475A |
申请公布日期 |
2007.04.18 |
申请号 |
CN200510109338.1 |
申请日期 |
2005.10.13 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
王丛舜;胡文平;涂德钰;姬濯宇;刘明 |
分类号 |
H01L21/82(2006.01);H01L21/28(2006.01);H01L51/40(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/82(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
段成云 |
主权项 |
1、一种交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法,其结构的形成是由两次光刻、两次金属剥离获得的交叉线阵列结构,再在此基础上自组织生长有机材料,然后等离子体干法刻蚀,获得交叉线有机分子器件;其特征在于,其步骤如下:步骤1、在基片表面上淀积绝缘薄膜;步骤2、在绝缘薄膜表面上旋涂抗蚀剂,光刻得到电极图形;步骤3、蒸发、剥离金属得到交叉线下电极;步骤4、旋涂抗蚀剂,光刻得到与下电极交叉的上电极图形;步骤5、蒸发、剥离金属得到上电极;步骤6、液相法自组织生长有机分子材料;步骤7、等离子体干法刻蚀,完成交叉线有机分子器件的制备。 |
地址 |
100029北京市朝阳区北土城西路3号 |