发明名称 |
检测光盘坏损区的方法 |
摘要 |
本发明涉及在可写光盘上记录数据时无错地检测坏损区的方法。此方法检测记录操作中产生的伺服错误信号的电平,根据检测到的电平检查伺服错误信号是否处于异常状态,检测周期性的颤动信号或记录操作中产生的伺服错误信号异常状态发生的周期性,若伺服错误信号处于异常状态,则根据检测到的周期性颤动信号的成功解码或者异常状态出现的周期性来确定记录区是否坏损。该方法确保了坏损区的准确检测,由此可消除不必要的降速,并保证即使在坏损区也能成功写入数据。 |
申请公布号 |
CN1311465C |
申请公布日期 |
2007.04.18 |
申请号 |
CN02106000.2 |
申请日期 |
2002.04.12 |
申请人 |
日立-LG数据存储韩国公司 |
发明人 |
崔永道;房极英;晋哲 |
分类号 |
G11B20/18(2006.01);G11B7/00(2006.01) |
主分类号 |
G11B20/18(2006.01) |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
钟强;谷惠敏 |
主权项 |
1.一种检测可写光盘是否存在坏损区的方法,包括以下步骤:(a)检测记录操作中产生的伺服错误信号的电平;(b)确定该电平是否大于预定值;(c)在大于预定值的情况下,确定大于该预定值的持续时间是否大于预定时间;(d)在该持续时间大于预定时间的情况下,确定是否检测到调制进可写光盘的颤动信号;(e)如果没有检测到该颤动信号,则确定该可写光盘当前记录区存在坏损区。 |
地址 |
韩国首尔 |