发明名称 半导体元件及其制造方法
摘要 一种半导体元件,系具备单晶矽基板(101)、设于该基板表面之碳化矽层(102)、接合于该碳化矽层所设之Ⅲ族氮化物半导体接合层(103)、及于该Ⅲ族氮化物半导体接合层上由Ⅲ族氮化物半导体所构成的超晶格构造层(104),其构成为:碳化矽层系一立方晶且晶格常数超过0.436nm且为0.460nm以下,在组成上富含矽的非化学计量之组成的层,该Ⅲ族氮化物半导体接合层系组成为AlXGaYInZN1-αMα(0≦X,Y,Z≦1;X+Y+Z=1;0≦α<1;M为氮以外之第V族元素)。
申请公布号 TW200715617 申请公布日期 2007.04.16
申请号 TW095128967 申请日期 2006.08.08
申请人 昭和电工股份有限公司;学校法人同志社 发明人 大忠;宇田川隆
分类号 H01L33/00(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;何秋远
主权项
地址 日本