发明名称 弯曲试验治具
摘要 本发明系有关一种弯曲试验治具。于实施基板弯曲试验时,用以固定测试基板两侧且其夹持单元可随基板运动而转动,因而可防止弯曲试验时基板受到额外的作用力,避免影响实验结果。
申请公布号 TW200714882 申请公布日期 2007.04.16
申请号 TW094134700 申请日期 2005.10.04
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 洪清富;涂昭乾;林素玉
分类号 G01L1/26(2006.01) 主分类号 G01L1/26(2006.01)
代理机构 代理人 花瑞铭
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号