发明名称 半导体装置及积体电路装置
摘要 本发明提供一种半导体装置,包括:一基底;一第一介电层位于上述基底上,其介电常数小于2.7;及一第二介电层,位于上述第一介电层上;一介层孔,位于上述第一介电层中;一导线,填满于上述沟槽开口内,该导线并电性连接上述介层孔;一第三介电层,位于上述第二介电层和上述导线之间;以及一第四介电层,位于上述第二介电层上。上述第二介电层最好为具有一超低介电常数之多孔性介电层材料,上述第二介电层之第二介电常数小于上述第一介电常数、上述第三介电常数、以及上述第四介电常数。
申请公布号 TW200715470 申请公布日期 2007.04.16
申请号 TW095110544 申请日期 2006.03.27
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 鲁定中;陈学忠
分类号 H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号